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X荧光/X射线测厚仪（膜厚仪）性能特点
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可精确定位测试点，重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加精准
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护
X荧光/X射线测厚仪（膜厚仪）技术指标
型号：Thick 800A
元素分析范围从硫（S）到铀（U）。
一次可同时分析zui多24个元素，五层镀层。
分析检出限可达2ppm，zui薄可测试0.005μm。
分析含量一般为2ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
多次测量重复性可达0.1%
长期工作稳定性可达0.1%
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
仪器尺寸：534（W） x 480 （D） x525（H） mm
重量：80 kG
X荧光/X射线测厚仪（膜厚仪）
标准配置:
高低压电源（美国Spellman进口）
大功率X光管（英国Oxford牛津进口）
电制冷半导体探测器（美国AMPTEK进口）
多道分析器（美国进口）
控制电路
高压单元
移动样品台
高清晰CCD
准直器：含Ф8.0mm、Ф6.0mm、Ф2.0mm、Ф1.0mm、Ф0.5mm、Ф0.2mm各一个
滤光片：5组滤光片
计算机：品牌商务电脑（内存2G、硬盘200G），17寸液晶显示器
打印机：彩色喷墨打印机
X荧光/X射线测厚仪（膜厚仪）
应用范围：
RoHS检测分析
地矿与合金（铜合金、锌合金、镁合金、钛合金、钴合金、不锈钢等金属样品的成分等）成分分析
金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定
黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测
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