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膜厚計的校正
閱讀：899 發(fā)布時間：2013-3-14
膜厚計的校正
以美國狄夫斯高膜厚計而言，校正的原理及方式很簡單。
膜厚計的測頭就像磁鐵一樣，將測頭在待測材料的素材【尚未有任何涂裝或電鍍的裸材】上測量，此時，膜厚計會感測到此材料的 大磁吸力；當我們將標準校正膜片放在素材上【就如同涂上一層己知厚度的涂裝層】，我們再用測頭在上面量測時，膜厚計會得到一個相對較小的磁吸力【因為，測頭與素材間多了一道膜厚片的距離，因此，磁吸力會變小】，如此，越厚的標準片會測得相對越小的磁吸力。我們只要將其相對的實際厚度值，如：0um、12um、50um、100um等相對的值輸入給膜厚計，膜厚計透過回歸計算后即會將此檢量曲線建立在記憶體中，當我們測量未知膜厚的工作物時，測頭感應(yīng)到某個磁吸力后，以內(nèi)插法的方式，膜厚計即可顯示出其測得的膜厚值了。