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产品简介
详细介绍
QNix8500涂镀层测厚仪一体分体通用，带菜单操作，是一种智能化的测厚仪。可通过更换探头来满足不同的测量需求，可存储数据，并且可与计算机进行无线传输。探头可直接与主机连接，进行一体化测量，也可通过探头电缆线来与主机连接，进行分体测量。分体测量操作简单，可很大程度上避免误操作产生的误差。该仪器主机通用，探头分为磁性探头、涡流探头及双用探头，探头的测量范围有0-2mm和0-5mm两种.
- 只需调零，无需校准
- 测量精度高
- 一体分体通用
- 可配多种探头
- 中英文菜单操作
- 智能化
- 带存储，并可连计算机对数据进行处理分析
- 可连接薄镀层探头，对极薄的镀层厚度精确测量，误差小于±3um
- Fe铁基探头： 0－2000μm 0－5000μm
- NFe非铁基探头: 0－2000μm 0－5000μm
- NFe/Fe两用探头：0－2000μm 0－5000μm
- 无线传输探头
- 薄镀层探头
0－5000μm
2000－5000μm：≤±3％