老化（Burn in）是指采用高溫方法對產(chǎn)品施加環(huán)境應(yīng)力，而環(huán)境應(yīng)力篩選（ESS：Environment Stress Screen ）則不僅包括高溫應(yīng)力，還包括其他很多應(yīng)力，例如溫度循環(huán)、隨機振動等，如圖所示。所以，老化是屬于環(huán)境應(yīng)力篩選的一種。但現(xiàn)在很多公司已經(jīng)把“老化”這個詞的意義擴展了，老化就等同環(huán)境應(yīng)力篩選，環(huán)境應(yīng)力篩選俗稱為老化，我們就沿用“老化”這個詞。
在電子產(chǎn)品在加工過程中，由于經(jīng)歷了復(fù)雜的加工和元器件物料的大量使用，將引入各種缺陷（即便設(shè)計再好的產(chǎn)品亦如此）。無論是加工缺陷還是元器件缺陷，都可分為明顯缺陷和潛在缺陷，明顯缺陷指那些導(dǎo)致產(chǎn)品不能正常工作的缺陷，例如短路/斷路。而潛在缺陷導(dǎo)致產(chǎn)品暫時可以使用，但在使用中缺陷會很快暴露出來，產(chǎn)品不能正常工作，例如焊錫不足，產(chǎn)品雖然可以用，但輕微振動可能就會使焊點斷路。明顯缺陷可通過常規(guī)檢驗手段（即ICT:在線測試，In-Circuit Test，是通過對在線元器件（制成板上的元器件）的電性能及電氣連接進行測試來檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標準測試手段。它主要檢查在線的單個元器件以及各電路網(wǎng)絡(luò)的開、短路情況，具有操作簡單、快捷迅速、故障定位準確等特點、FT等）加以發(fā)現(xiàn)。潛在缺陷則無法用常規(guī)檢驗手段發(fā)現(xiàn)，而是運用老化的方法來剔除。如果老化方法效果不好，則未被剔除的潛在缺陷將zui終在產(chǎn)品運行期間以早期失效（或故障）的形式表現(xiàn)出來，從而導(dǎo)致產(chǎn)品返修率上升，維修成本增加。
其實，老化目的還有一個更重要的目的（和測試一樣）：通過老化使產(chǎn)品加工工藝不斷改進，使元器件品質(zhì)不斷改進，改進到不需要老化為止。電路板在老化以后一定要經(jīng)過測試，假如在測試中發(fā)現(xiàn)某個元器件經(jīng)常損壞，則說明該器件有潛在缺陷，需要供應(yīng)商改進品質(zhì)。
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