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一、温度冲击试验箱的温度变化试验方法标准介绍：

IS0 16750的温度冲击试验箱的温度变化试验方引用了GB/T 2423. 22/IEC 60068 -2 - 14试验N：温度变化。温度冲击试验箱试验N中的温度变化方法包括了3项试验方法：

试验Na：按规定时间快速温度变化；

试验Nb：按规定温度变化速率的温度变化；

试验Nc：快速温度变化，二槽法。

IS0 16750的本试验引用了试验Nb：按规定温度变化速率的温度变化和试验Na：按规定时间快速温度变化2种试验。对快速温度变化进行了变形，已不适用于试验Nc。

ISO16750.3的振动试验方法，叠加了温度变化试验，试验箱的要求和样品加载要求也*相同。振动试验附加的温度变化试验不能代替单独进行的温度变化试验。

二、温度冲击试验箱的温度变化的条件范围：

电子设备和元件通常经历温度变化。

当温度冲击试验箱处于非工作状态时，设备内部部件经历的温度变化郊外部表面慢。

快速温度变化往往发生在：

——当设备从温暖的室内环境转到寒冷的外空气条件或类似情况；

——当设备突然被雨淋冷却或侵没在冷水中；

——暴露安装在流动空气中的设备；

——运输和包装条件下的某些情况。

通电后的设备结构会产生高温的梯度，元件在温度变化中将经受应力，例如，在大功率的电阻器边上，热辐射可以使相怜的元件表面温度上什，而其他部分还是冷的。

在制冷开关合上后，人工冷却的元件温度将快速变化。元件温度的快速变化也会导致诱使设备的加工应力。而温度变化的数量、幅值和时间间隔都是重要因素。