半导体制冷低温差示扫描量热仪产品介绍:

DSC测量的是与材料内部热转变相关的温度、热流的关系，应用范围非常广，特别是材料的研发、性能检测与质量控制。材料的特性：如玻璃化转变温度。冷结晶、相转变、熔融、结晶、热稳定性、固化/交联，都是DSC的研发领域。

半导体制冷低温差示扫描量热仪主要特点:

1.全新的炉体结构，更好的解析度和分辨率以及更好的基线稳定性仪器主控芯片

2.数字式气体质量流量计，精确控制吹扫气体流量，数据直接记录在数据库中

3.仪器可采用双向控制（主机控制、软件控制），界面友好，操作简便

4.采用Cortex-M3内核ARM控制器，运算处理速度更快，温度控制更精确

5.采用USB双向通讯，操作更便捷

6.采用7寸24bit色全彩LCD触摸屏，界面更友好

7.采用专业合金传感器，更抗腐蚀，抗氧化

技术参数:
1.DSC量程:  0～±500mW

2.温度范围: -35~350℃      
3.升温速率: 1~80℃/min
4.温度分辨率: 0.1℃
5.温度波动: ±0.1℃
6.温度重复性: ±0.1℃
7.DSC噪声: 0.01μW
8.DSC解析度: 0.01μW
9.DSC精确度: 0.01mW
10.DSC灵敏度: 0.01mW
11.控温方式: 全程序自动控制
12.曲线扫描: 升温扫描
13.气氛控制: 仪器自动切换
14.显示方式: 24bit色，7寸 LCD触摸屏显示
15.数据接口: 标准USB接口
16.参数标准: 配有标准物质，带有一键校准功能，用户可自行校正温度和热焓
17.外观尺寸：500*393*154mm(长宽高）