測(cè)量功能豐富:能進(jìn)行多種基本測(cè)量,包括幅度 / 相位、插入損耗、電長(zhǎng)度、增益壓縮和群延遲等。搭配 HP 35677A/B S 參數(shù)測(cè)試套件,還可在 50 或 75 歐姆系統(tǒng)中測(cè)量回波損耗、反射系數(shù)和阻抗。
測(cè)量精度高:具有高分辨率,可達(dá) 0.001dB、0.005 度、1ps 和 0.001Hz,能實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量,可精確描述濾波器、放大器、晶體器件和通信、電信、消費(fèi)電子等領(lǐng)域中使用的子系統(tǒng)的特性。
具備誤差校正功能:內(nèi)置三項(xiàng)誤差校正和歸一化功能,可提高測(cè)量的準(zhǔn)確性和可靠性。
顯示模式多樣:支持幅度、相位、極坐標(biāo)、實(shí)部、虛部和群延遲等多種顯示模式,方便用戶(hù)根據(jù)不同的需求和測(cè)量場(chǎng)景選擇合適的顯示方式,更直觀地觀察測(cè)量結(jié)果。
操作便捷:具有便捷的功能,如直接繪圖儀控制和矢量數(shù)學(xué)函數(shù),方便用戶(hù)進(jìn)行數(shù)據(jù)處理和分析。還可通過(guò)軟鍵選擇測(cè)量功能,能快速測(cè)量傳遞函數(shù)、幅度 / 相位、插入損耗 / 增益、衰減、電長(zhǎng)度和增益壓縮等參數(shù),同時(shí)可高分辨率測(cè)量相位失真參數(shù),如群延遲和線性相位偏差。
輸入阻抗靈活:接收器輸入阻抗靈活,可在 50 歐姆或高阻抗(1 兆歐)環(huán)境中進(jìn)行測(cè)量,適應(yīng)不同的測(cè)試環(huán)境和被測(cè)設(shè)備的要求。
- Agilent/安捷倫
- KEYSIGHT/美國(guó)是德
- 其他品牌
- TeKtronix/美國(guó)泰克
- R&S/羅德與施瓦茨
- Santec/日本
- EXFO/加拿大
- FLUKE/福祿克
- Anritsu/安立
- Keithley/美國(guó)吉時(shí)利
- YOKOGAWA/日本橫河
- SRS/斯坦福
- HP/惠普
- FUJIKURA/藤倉(cāng)
- ADCMT/愛(ài)德萬(wàn)
- 美國(guó)力科
- HIOKI/日本日置
- LitePoint/萊特波特
- SUMITOMO/住友
- OLYMPUS/奧林巴斯
- Ceyear/思儀
- KIKUSUI/日本菊水
- BCHP/中惠普
- 古河蓄電池
- Bristol/美國(guó)
- SHIMADZU/島津
- ITECH/艾德克斯
- General Photonics
- Newport/美國(guó)
- Bruker/布魯克
- SPIRENT/思博倫
- RIGOL/普源
- GWINSTEK/中國(guó)臺(tái)灣固緯
- SIGLENT/鼎陽(yáng)
- YINUO/一諾儀器
- Waters/沃特世
- PICOTEST/中國(guó)臺(tái)灣儀鼎
- UNI-T/優(yōu)利德
- Ophir
- BIRD/美國(guó)鳥(niǎo)牌
- Chroma/致茂
- KEYENCE/基恩士
- AMETEK/阿美特克
- ESPEC/愛(ài)斯佩克
- OMRON/歐姆龍
- SPECTRUM/上海光譜
- 中國(guó)臺(tái)灣博計(jì)
- EEC/中國(guó)臺(tái)灣華儀
- Siemens/西門(mén)子
- AP(Audio Precision)/美國(guó)
- 同惠電子
- HAMEG/德國(guó)惠美
- Nikon/日本尼康
- Hitachi/日立
- TDK-LAMBDA/日本
- OceanOptics/海洋光學(xué)
- 常州安柏
- NOISEKEN
- 盛普 SP
- DEIF/丹麥
- Quantum Opus