Agilent（现Keysight）N7786C偏振合成器是一款集高速偏振控制与实时监测于一体的光通信测试仪器，专为光器件研发和量产测试设计。
核心技术参数与功能特性
偏振控制与分析一体化设计
采用铌酸锂晶体调制技术，集成高速偏振控制器和实时偏振分析仪，可在单台设备中实现偏振态（SOP）精确调控与斯托克斯参数实时测量。支持以下工作模式：
偏振稳定器：通过反馈控制补偿输入光的偏振漂移，输出SOP稳定性≤0.1°（典型值），适用于高灵敏度干涉仪和相干通信系统。
SOP序列发生器：预设或自定义16种SOP状态，切换速率高达40 kHz，单次切换时间<10 μs，满足密集波分复用（DWDM）器件的高速偏振相关损耗（PDL）测试需求。
随机扰偏器：在邦加球上实现全范围随机偏振态覆盖，扫描时间<5 ms，用于模拟光纤链路中的偏振模色散（PMD）效应。
宽波长覆盖与高精度测量
波长范围：1240-1650 nm，覆盖O、E、S、C、L全波段，兼容单模光纤（SMF）和保偏光纤（PMF）测试。
测量精度：
偏振消光比（PER）：>45 dB（典型值）
差分群延迟（DGD）测量不确定度：50 fs ± 0.6%（0-1000 ps范围）
偏振相关损耗（PDL）分辨率：0.001 dB
动态范围：输入功率范围-50 dBm至+7 dBm，支持光放大器（EDFA）和硅光芯片的高功率测试。
化工仪器网