AQ6317B是一款高級光譜分析儀，適用于各種應(yīng)用，包括光源評估，光學(xué)設(shè)備中損耗波長特性的測量以及WDM（波分復(fù)用）系統(tǒng)的波形分析。
特別是在C波段和L波段，該裝置可實(shí)現(xiàn)較高的波長精度和波長線性度，并可評估用于WDM的光學(xué)設(shè)備。分析功能使操作和擴(kuò)展性變得簡單。
橫河 AQ6317B 光譜分析儀規(guī)格：
波長范圍：600至1750 nm
動態(tài)范圍：60 dB（1523nm，峰值0.2nm，分辨率：0.01nm）
波長精度：0.5 nm（600至1750nm）
波長線性度：0.01nm（1520至1580nm）
波長重復(fù)性：0.005 nm（1分鐘）
偏振相關(guān)性：0.05 dB（1550 / 1600nm），典型值0.05 dB （1310納米）
橫河 AQ6317B 光譜分析儀附加信息：
波長分辨率：分辨率設(shè)置：0.01、0.02、0.05、0.1、0.2、0.5、1.0、2.0nm
分辨率精度：5％
電平精度：0.3 dB
電平線性度：0.05 dB
掃描時間：約 500毫秒
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