測量功能：主要用于測量雙端口設(shè)備在頻域內(nèi)的復(fù)數(shù)傳輸和反射特性，通過對入射信號進行采樣，分離出傳輸波和反射波，進而計算出與雙端口反射系數(shù)和傳輸系數(shù)直接相關(guān)的比值，可獲取被測設(shè)備的幅度、相位和群時延響應(yīng)等信息。

頻率范圍：頻率覆蓋范圍從 130MHz 至 20GHz，能夠滿足眾多射頻和微波器件在該頻段范圍內(nèi)的特性測試需求。

內(nèi)置合成源：內(nèi)置集成合成信號源，可提供穩(wěn)定的測試信號，并且能在一定頻率范圍內(nèi)進行掃頻，以便快速獲取感興趣頻段內(nèi)的幅度和相位信息。

S 參數(shù)測試：配備開關(guān)式 S 參數(shù)測試裝置，可方便地測量雙端口器件的 S 參數(shù)，全面評估器件的性能。

矢量精度增強：內(nèi)置矢量精度增強技術(shù)，通過校準等手段提高測量的準確性，減少測量誤差。

顯示功能：擁有兩個獨立的顯示通道，數(shù)據(jù)可以以對數(shù)幅度、線性幅度、駐波比、相位、群時延、極坐標、實部或史密斯圓圖等多種格式顯示，方便用戶根據(jù)需求進行觀察和分析。

編程與存儲：可通過 HP-IB 總線由外部計算機進行編程控制，并且具有直接保存數(shù)據(jù)到外部磁盤驅(qū)動器的功能，方便數(shù)據(jù)的存儲、分析和處理。