化工儀器網(wǎng)技術(shù)文章
OD7000系列西克SICK高精度位移傳感器新品上市！
閱讀：303 發(fā)布時間：2023-9-7OD7000系列西克SICK高精度位移傳感器采用光譜共焦技術(shù)，以非常高的精度測量非常小的距離。
白光通過光纖和光纖耦合器傳輸?shù)教筋^，探頭中的透鏡將白光分成不同的波長并聚焦。每個波長都有自己的焦點的目標表面被大程度地垂直反射的回傳感器頭和光纖接收，并被轉(zhuǎn)移到控制器中的光譜儀進行分析聚焦目標表面的波長比其他波長反射更強烈。
光譜顯示出明顯的峰值這個光譜峰對應(yīng)一個距離，可以用來有效確定到目標表面的距離。
由控制器和探頭組成，結(jié)構(gòu)緊湊，易于集成?？刂破骺蛇x配編碼器輸入，都具有以太網(wǎng)接口，節(jié)省成本。
OD7000系列西克SICK高精度位移傳感器主要面對的是終端用戶、集成商和E&S行業(yè)的OEM商，在面對在傳統(tǒng)激光位移傳感器無法有效測量時，系列西克SICK高精度位移傳感器也可以提供解決方案。
OD7000系列西克SICK高精度位移傳感器產(chǎn)品特點：配備RS-422和以太網(wǎng)接口
三種測量范圍:600μm、4mm、10mm分辨率為25nm、180nm和400nm
線性度為198nm、1.4μm和4μm
緊湊的控制器尺寸
簡單易于使用的配置軟件
技術(shù)參數(shù)：
應(yīng)用范圍：玻璃測厚（單頭）
玻璃平面度測量(多傳感器頭)
涂料、膠水、漿料或密封劑的厚度
測量太陽能硅片鋸痕
檢測透明薄膜厚度測量(單傳感器頭)
不透明薄膜厚度測量(兩個傳感器頭)
應(yīng)用場景：玻璃行業(yè)—單頭測厚
電子和光伏行業(yè)—太陽能硅片測量平整度以及分選
機械制造和消費品行業(yè)—薄膜厚度檢測