目錄:天津市拓普儀器有限公司>>物理教學(xué)儀器>>工程光學(xué)實驗>> WSG-1型電子散斑干涉（ESPI）實驗裝
| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
產(chǎn)品詳細資料
本實驗裝置主要面向大專院校教學(xué)使用。本實驗是用激光光束直接照射到測試表面，再用CCD采其變形前后表面散斑顆粒干涉形成的條紋，以測定其離面位移的新型，優(yōu)良的測試技術(shù)。本實驗裝置可以使學(xué)生了解其原理和測量的方法。
該實驗裝置具有機構(gòu)簡單、精度高、靈敏性好、非接觸、無需暗房操作，實時顯示全場信息及處理信息快等優(yōu)點，故而應(yīng)用廣泛，如物體形變測量、無損測量、震動測量等。
自己調(diào)節(jié)光路，可提高動手能力
采用了處理光學(xué)信息的CCD測量技術(shù)
計算機處理圖象，軟件操作簡便
可利用軟件畫出測試表面受力變形后的三維立圖
CCD攝像機（帶電源）、氦氖激光器、圖象采集卡、圖象處理軟件、精密調(diào)整架、分束鏡、擴束鏡、準(zhǔn)直鏡、聚焦透鏡、平面反射鏡、偏振片、被測物品等
(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)
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