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產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
快速溫變綜合試驗箱用途介紹
?設(shè)備主要應(yīng)用在航空航天工業(yè)、國防研發(fā)、高校院所科研、芯片制備、IC封裝、半導(dǎo)體器件、新能源動力電池、光電通訊器件、智能手機研發(fā)、5G通訊產(chǎn)業(yè)等單位及行業(yè)。通過將溫度快速升降加速技巧對產(chǎn)品及零部件進(jìn)行高溫與低溫上下極值快速溫變測試（溫度應(yīng)力篩選），透過溫度冷熱交替膨脹和收縮加速應(yīng)力來發(fā)現(xiàn)潛存于產(chǎn)品中的零件材料瑕疵、制程瑕疵、工藝瑕疵得到提前曝露，避免產(chǎn)品在使用過程中受到溫度環(huán)境應(yīng)力的考驗時而導(dǎo)致失效。是品管工程和產(chǎn)品研發(fā)、分析的可靠性快速解決方案。
快速溫變綜合試驗箱技術(shù)參數(shù)
1.工作室容積：150L，225L，408L，500L，800L，1000L。（可定制非標(biāo)機型）
2.溫度范圍：-70℃～+150℃。
3.溫變速率：5℃/min；10℃/min；15℃/min；20℃/min；25℃/min。（選購：線性與非線性溫變）
4.溫變范圍：-40℃～+85℃或-55℃～+125℃。（可按需求定制）
5.溫度波動度：±0.5℃。
6.溫度均勻度：±2.0℃。
7.溫度值偏差：≤±2.0℃。
8.承載重量：8.0kg。
9.功率：8.0KW～35.0KW。
10.電源：AC380V（五線制）±5%。
11.制冷系統(tǒng)：*壓縮機低噪音模塊化設(shè)計二元復(fù)疊熱交換水冷式制冷機組。
12.加熱系統(tǒng)：進(jìn)口SUS304#不銹鋼鰭片式耐濕、耐熱、耐寒加熱管，空氣式控溫。
13.節(jié)能方式：冷端PID調(diào)節(jié)（即加熱不制冷，制冷不加熱），比平衡調(diào)溫方式節(jié)能30%。
14.保護(hù)裝置：壓縮機過載、過流、超壓保護(hù)、漏電保護(hù)、內(nèi)箱超溫保護(hù)、加熱管空焚保護(hù)。
15.標(biāo)準(zhǔn)配置：觀測窗一個、LED視窗燈一支、保險管2支、物料架2套。
16.快速溫度變化試驗箱標(biāo)準(zhǔn)型號及規(guī)格選擇如下，可按需求非標(biāo)定制。
型 號 內(nèi)箱尺寸（mm） 外箱尺寸（mm）
ZK-ESS-150L W500×H600×D500 W850×H1680×D1250
ZK-ESS-225L W500×H750×D600 W850×H1880×D1350
ZK-ESS-408L W600×H850×D800 W900×H1980×D1550
ZK-ESS-500L W800×H900×D700 W1100×H2100×D1450
ZK-ESS-800L W800×H1000×D1000 W1100×H2150×D1650
ZK-ESS-1000L W1000×H1000×D1000 W1300×H2150×D1650
快速溫變試驗箱特點
1.溫度快速升降溫試驗箱經(jīng)提取歐美及日本設(shè)計與制造工藝?yán)砟?，采用前沿的制冷控制模式，可使輸出功率?%～*自動調(diào)節(jié)壓縮機制冷量，較傳統(tǒng)平衡調(diào)溫調(diào)濕模式耗能減少30%。制冷系統(tǒng)為*壓縮機低噪音模塊化二元復(fù)疊熱交換水冷式機組設(shè)計，可使溫度循環(huán)按線性與非線性快速溫變，同時快速溫變速率可實現(xiàn)5℃/min；10℃/min；15℃/min；20℃/min；25℃/min。
2.制冷及電控、溫控系統(tǒng)關(guān)鍵配件均采用，每臺電機均配置過流（過熱）保護(hù)/加熱器設(shè)置短路保護(hù)，確保設(shè)備運行期間高可靠性，使設(shè)備的綜合性能得到*釋放提升。
3.USB接口、以太網(wǎng)通訊功能，使得設(shè)備的通訊和軟件擴展功能滿足用戶多種需要，實現(xiàn)運行數(shù)據(jù)交換功能，能與用戶主機連接進(jìn)行遠(yuǎn)程操控，實時了解設(shè)備運行狀況，可通過任何移動終端監(jiān)控。
4.可實現(xiàn)溫度定值控制和程序控制，具備高低溫快速溫變（溫度應(yīng)力篩選）、高溫高濕試驗、冷熱循環(huán)試驗、溫濕度循環(huán)試驗、恒溫恒濕試驗、結(jié)露試驗等多種可靠性測試。滿足不同用戶對多種產(chǎn)品在惡劣復(fù)雜氣候環(huán)境條件下的試驗。
溫度快速升降溫試驗箱參考標(biāo)準(zhǔn)
1.GJB 150.3A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部分：高溫試驗。
2.GJB 150.4A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分：低溫試驗。
3.GJB 150.9A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第9部分：濕熱試驗。
4.GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 總則。
5.GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫。
6.GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗B：高溫。
7.GB/T 2423.3-2016 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗Cab：恒定濕熱試驗。
8.GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗Db：交變濕熱。
9.GB/T 2423.22-2012（IEC68-2-14）試驗N：溫度變化試驗。
10.GB/T 2423.34-2012 （IEC68-2-38）試驗Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗。