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行業(yè)產(chǎn)品

當前位置:
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[供應(yīng)]ZK-GDFB-150L-防爆型高低溫試驗箱
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  • ZK-GDFB-150L-防爆型高低溫試驗箱
貨物所在地:
廣東東莞市
產(chǎn)地:
廣東省東莞市橋頭鎮(zhèn)
更新時間:
2022-01-02 21:00:28
有效期:
2022年1月2日 -- 2022年7月2日
已獲點擊:
147
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產(chǎn)品簡介

東莞中科測試設(shè)備有限公司是一家專業(yè)制造電池防爆試驗箱可靠性實驗設(shè)備的供應(yīng)商,防爆型高低溫試驗箱主要測試石墨烯電池、動力電池、鋰電池、鉛蓄電池、鎳氫電池、鎳鎘電池的防爆性可靠性試驗。

詳細介紹

防爆型高低溫試驗箱用途介紹

防爆高低溫試驗箱適用于汽配廠、電池廠、新能源動力公司、*單位、高等院校研發(fā)機構(gòu)等單位。考核和確定鎳鎘電池、鎳氫電池、鋰離子電池、鉛蓄電池、鋰電池、動力電池、電池組模塊、特種材料、兵器戰(zhàn)斗部、密閉特種器具、易爆易燃等產(chǎn)品做耐高溫、耐低溫、高低溫交變、冷熱循環(huán)、高低溫恒定等各種氣候環(huán)境條件下貯存和使用的適應(yīng)性試驗或?qū)嶒灐?/span>

 

防爆型高低溫試驗箱技術(shù)參數(shù)

1.溫度范圍: -20℃~+150℃;-40℃~+150℃;-60℃~+150℃;-70℃~+150℃。

2.濕度范圍:20%~98%R.H。(可選5%~98%R.H或10%~98%R.H)。

3.內(nèi)箱承受壓力:0.4Mpa(4kg)。

4.防爆箱泄壓能力:4kg/min。

5.泄壓口:Φ10cm。

6.溫度波動度: ±0.5℃。

7.溫度均勻度: ±2.0℃。

8.濕度波動度:±1.5%R.H。

9.濕度均勻度:±2.0%R.H.。

10.溫度升溫速率:3.0℃~4.0℃/min。(可定制快速溫變5℃~25℃/min機型)

11.溫度降溫速率:0.7℃~1.0℃/min。(可定制快速溫變5℃~25℃/min機型)

12.低溫極限: -70℃。

13.高溫極限: +150℃。

14.升溫時間:-20-->+150℃≤60min ;-40-->+150℃≤70min;-70-->+150℃≤80min。

15.降溫時間:+20-->-20℃≤40min;+20-->-40℃≤60min;+20-->-70℃≤80min。

16.防爆高低溫試驗箱型號及規(guī)格選擇如下:

 型 號          內(nèi)箱尺寸(mm)          外箱尺寸(mm)

ZK-GDFB -80L       W400×H500×D400        W1000×H1330×D850

ZK-GDFB-120L       W500×H600×D400        W1000×H1530×D850

ZK-GDFB-150L       W500×H600×D500        W1000×H1850×D950

ZK-GDFB-225L       W500×H750×D600        W1000×H1680×D1050

ZK-GDFB-408L       W600×H850×D800        W1100×H1780×D1250

ZK-GDFB-800L       W1000×H1000×D800       W1500×H1930×D1250

ZK-GDFB-1000L      W1000×H1000×D1000      W1500×H1930×D1450

根據(jù)客戶需求非標定做......

 

防爆高低溫試驗箱測試執(zhí)行與滿足標準

1. 防爆等級:Exd Ⅱ BT4。

2. GJBl50.3(MIL-STD-810D) 高溫試驗方法。

3. GJBl50.4(MIL-STD-810D) 低溫試驗方法。

4. GB/T10586-1989溫濕試驗箱技術(shù)條件。

5. GJB150.9-8溫濕試驗。

6. B2423.34-86、MIL-STD883C方法1004.2溫濕度組合回圈試驗。

7. GJB/150A-2009.實驗室環(huán)境試驗方法第1部分。

8. GJB 150.3A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部分:高溫試驗。

9. GJB 150.4A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分:低溫試驗。

10. GB/T 10592 -2008高低溫試驗箱技術(shù)條件。

11. GB/T2423.4-93(MIL-STD810)方法507.2程序。

12. GB/ T 2421-1991《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 總則》。

13. GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 總則。

14. GB/2423.34-86.MIL-STD883(方法1004.2)高低溫組合循環(huán)試驗。

15. GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法試驗A:低溫。

16. GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法試驗B:高溫。

17. GB/T2423.1~2《電工電子產(chǎn)品的基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗。A:低溫試驗方法、試驗B:高溫試驗方法》。

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