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溫濕度氣候環(huán)境試驗(yàn)箱可模擬溫濕度同步線性條件下高低溫循環(huán)試驗(yàn)、恒溫恒濕試驗(yàn)、交變濕熱試驗(yàn)、濕熱交變?cè)囼?yàn)、溫濕度循環(huán)試驗(yàn)、高低溫交變?cè)囼?yàn)、高低溫濕熱試驗(yàn)、冷熱循環(huán)試驗(yàn)、恒溫濕熱試驗(yàn)、恒定濕熱試驗(yàn)等多種溫濕度試驗(yàn)條件，滿足半導(dǎo)體、通訊器材、5納米芯片、動(dòng)力電池模組、光伏組件、5G基站天線、石墨烯屏幕、華為手機(jī)、蘋果手機(jī)、紅外測溫儀、呼吸機(jī)等產(chǎn)品或被測樣品在復(fù)雜氣候環(huán)境條件下的貯存運(yùn)輸與使用時(shí)的適應(yīng)性測試。避免產(chǎn)品在使用過程中受到溫濕度環(huán)境的考驗(yàn)時(shí)而導(dǎo)致失效，對(duì)于提高產(chǎn)品出貨良率與降低返修次數(shù)有顯著的效果。

溫濕度氣候環(huán)境試驗(yàn)箱技術(shù)性能

1.溫度范圍：-20～+150℃；-40～+150℃；-60～+150℃；-70～+150℃。（根據(jù)需求選擇）

2.濕度范圍：20～98%R.H。（可定制：5～98%R.H或10～98%R.H）

3.溫度穩(wěn)定度：±0.3℃。

4.濕度穩(wěn)定度：±1.0%RH。

5.溫度均勻度：±1.5℃。

6.濕度均勻度：±3.0%R.H。

7.溫濕度偏差：≦±2.0℃/≦3.0%R.H。

8.升溫時(shí)間：-20-->+150℃≤60min；-40-->+150℃≤70min；-70-->+150℃≤80min。

9.降溫時(shí)間：+20-->-20℃≤40min；+20-->-40℃≤60min；+20-->-70℃≤80min。

10.設(shè)備的型號(hào)和規(guī)格選擇如下：

11.內(nèi)箱材質(zhì)：進(jìn)口SUS304#鏡面不銹鋼。

12.外箱材質(zhì)：進(jìn)口SUS304#不銹鋼或進(jìn)口冷軋鋼板噴塑烤漆。

13.制冷系統(tǒng)：法國*“泰康”或“比澤爾”牌壓縮機(jī)二元復(fù)疊模塊化機(jī)組。

14.加熱系統(tǒng)：進(jìn)口SUS304#不銹鋼鰭片式耐濕、耐熱、耐寒加熱管，加熱空氣式控溫。

15.加濕系統(tǒng)：鈦合金護(hù)套式電加熱加濕器，均勻濕氣發(fā)生裝置。

16.節(jié)能方式：冷端PID調(diào)節(jié)（即加熱不制冷，制冷不加熱），比平衡調(diào)溫方式節(jié)能30%。

17.制冷方式：機(jī)械壓縮單級(jí)制冷或二元復(fù)疊制冷。（風(fēng)冷或水冷）

18.保護(hù)裝置：壓縮機(jī)過載、過流、超壓保護(hù)；漏電保護(hù)；內(nèi)箱超溫保護(hù)；加熱管空焚保護(hù)。

19.標(biāo)準(zhǔn)配置：觀測窗一個(gè)；LED視窗燈一支；保險(xiǎn)管2支；物料架2套。

20.電源：AC220V(三線制）±10% 或 AC380V（五線制）±5%。

設(shè)備測試執(zhí)行和滿足標(biāo)準(zhǔn)

1. GB/T 10592 -2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件。

2. GB/T 10586 -2006 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件。

3. GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則。

4. GJB 150.3A-2009 軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分：高溫試驗(yàn)。

5. GJB 150.4A-2009 軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第4部分：低溫試驗(yàn)。

6. GJB 150.9A-2009 軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第9部分：濕熱試驗(yàn)。

7. GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫。

8. GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫。

9. GB/T 2423.22-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)N：溫度變化。

10.GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)。

11.GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db：交變濕熱（12h + 12h循環(huán)）。

公司主營氣候環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備：

高溫箱、低溫箱、恒溫恒濕箱、濕熱試驗(yàn)箱、溫度沖擊箱、冷熱沖擊箱、高低溫沖擊箱、高低溫試驗(yàn)箱、恒溫恒濕試驗(yàn)箱、高低溫濕熱試驗(yàn)箱、高低溫循環(huán)試驗(yàn)箱、高低溫交變?cè)囼?yàn)箱、高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱、高低溫濕熱交變?cè)囼?yàn)箱、溫度沖擊試驗(yàn)箱、冷熱沖擊試驗(yàn)箱、高低溫沖擊試驗(yàn)箱、可程式恒溫恒濕試驗(yàn)機(jī)、高低溫濕熱試驗(yàn)箱、高精度高溫烤箱、大型高溫烤箱、紫外線老化試驗(yàn)箱、紫外光加速老化試驗(yàn)機(jī)、臭氧老化試驗(yàn)箱、耐臭氧老化試驗(yàn)機(jī)、氙燈老化試驗(yàn)箱、兩箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱、三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱、環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)箱、加速老化試驗(yàn)箱、步入式環(huán)境試驗(yàn)室、步入式高低溫老化房、步入式恒溫恒濕試驗(yàn)室、快速溫變?cè)囼?yàn)箱、快速溫度變化試驗(yàn)機(jī)、pct加速老化試驗(yàn)箱、HAST高溫加速老化試驗(yàn)箱、鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱。