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| 产地类别 | 国产 | 价格区间 | 20万-50万 |
|---|---|---|---|
| 仪器种类 | 立式 | 应用领域 | 电子/电池,航空航天,汽车及零部件,电气,综合 |
产品简介
详细介绍
快速温变低湿试验箱试验要求
1.MIL-STD-2164、GJB-1032-90电子产品应力筛?。?/span>
高温：150℃；低温：-60℃；温变率：5℃/min；循环数：10～12次；循环时间：3h20min。
2.MIL-344A-4-16电子设备环境应力筛选：
高温：71℃；低温：-54℃；温变率：5℃/min；循环数：10次；循环时间：3h20min。
3.MIL-2164A-19电子设备环境应力筛?。?/span>
高温：150℃；低温：-60℃；温变率：10℃/min；循环数：10次；循环时间：工作室达到温度10℃时。
4.NABMAT-9492美军*制造筛?。?/span>
高温：55℃；低温：-53℃；温变率：15℃/min；循环数：10次；循环时间：工作室达到温度15℃时。
5.GJB/Z34-5.1.6电子产品定量环境应力筛?。?/span>
高温：85℃；低温：-55℃；温变率：15℃/min；循环数：≧25次；循环时间：工作室达到温度稳定的时间。
6.GJB/Z34-5.1.6电子产品定量环境应力筛?。?/span>
高温：70℃；低温：-55℃；温变率：5℃/min；循环数：≧10次；循环时间：工作室达到温度稳定的时间。
7.笔记型计算机：
高温：85℃；低温：-40℃；温变率：15℃/min；循环数：≧10次；循环时间：3h20min。
快速温变低湿试验箱型号和规格选择如下
型 号 内箱尺寸（mm） 外箱尺寸（mm）
ZK-ESS-150L W500×H600×D500 W850×H1680×D1250
ZK-ESS-225L W500×H750×D600 W850×H1880×D1350
ZK-ESS-408L W600×H850×D800 W900×H1980×D1550
ZK-ESS-800L W800×H1000×D1000 W1100×H2150×D1650
ZK-ESS-1000L W1000×H1000×D1000 W1300×H2150×D1650
可按需求尺寸非标定制......
快速温变试验箱执行与满足标准
1.GJB150.3A-2009 高温试验方法。
2.GJB150.4A-2009 低温试验方法。
3.GJB150.9A-2009 湿热试验方法。
4.GJB1032-90环境应力筛选方法。
5.GB/T2423.2-2008 高温试验方法。
6.GBT2424.5-2006 温度试验箱性能确认。
7.GB/T10586-2008 低温试验箱技术条件。
8.GB2423.22-2008 温度变化速率试验方法。
9.MIL-STD-2164电子产品应力筛选方法。
10.GB/T10586-2006 湿热试验箱技术条件。
11.GBT2424.7-2006 (带负载)温度试验箱测量。
12.MIL-2164A-19电子设备环境应力筛选方法。
13.GBT2424.6-2006 温度湿度试验箱性能确认。
14.GB/T5170.18-2005 试验设备基本参数检定方法。
15.GJB234-5.1.6电子产品定量环境应力筛选方法。
16.GB/T2423.3-2008(1EC68-2-3) 恒定湿热试验方法。
17.GB2423.1-2008/1EC6008-2-1-2007 低温试验方法。
18.G/BT2423.4-2008/1EC6008-2-30:2005 交变湿热方法。
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