您好, 欢迎来到化工仪器网
产品简介
详细介绍
德国IFG 扫描电镜微区X射线荧光分析系统iMOXS-SEM
*实现在扫描电子显微镜上安装聚焦X射线微区荧光分析! SEM能谱分析和微区X射线荧光的优缺点 Ø SEM能谱分析的特点: Ø 空间分辨率相对较高: 亚微米级 Ø 检测极限在百分比级: 1~0.1%（weight）. 不适合分析微量元素. Ø 电子束韧致辐射（bremsstrahlung）造成谱背底很大 X射线激发荧光分析的特点: Ø 检测极限提高20~50倍, 可达到<50ppm Ø 激发深度可达几十微米, 特别适合多层镀层的分析 Ø 非导电材料可直接分析 Ø 空间分辨率较差, 约几十微米 Ø 结合SEM能谱和X射线荧光两个谱, 可以大大提高分析的精确度. iMOXS.SEM系统由以下单元组成: - 小功率﹑空冷的微型聚焦X射线管（阳极材料有多种选择） - 聚焦型多毛细管X射线光学系统 - 扫描电镜接口和对中法兰 - 高压控制器和电源单元（可选手动控制型或PC控制型） - iMOXS-Quant软件包, 包括仪器控制﹑谱图定性和定量分析等?？?/p>
-提高微量元素分析的灵敏度
-更大的信息深度, 有益于镀层厚度分析
-将电子束微束分析和微区X射线荧光分析结果相结合, 显著改善分析的精度
如果您对本产品感兴趣，请与我们
: 400670-5118 王
传真:
： :
：www.annovatech.com
北京东方安诺生化科技有限公司