脈沖式線圈測(cè)試機(jī)能夠?qū)ε溆芯€圈繞組的件行效、非破壞性的電氣試驗(yàn),其原理是對(duì)標(biāo)準(zhǔn)線圈繞組件和被測(cè)線圈繞組 件施加同樣的脈沖電流,兩者的瞬態(tài)波形,以判斷被測(cè)線圈繞組件的優(yōu)劣。
脈沖式線圈測(cè)試機(jī)/脈沖式線圈測(cè)試儀 型號(hào):DP-DWT-05
脈沖式線圈測(cè)試機(jī)能夠?qū)ε溆芯€圈繞組的件行效、非破壞性的電氣試驗(yàn),其原理是對(duì)標(biāo)準(zhǔn)線圈繞組件和被測(cè)線圈繞組 件施加同樣的脈沖電流,兩者的瞬態(tài)波形,以判斷被測(cè)線圈繞組件的優(yōu)劣。瞬態(tài)波形就是發(fā)生在線圈內(nèi)的衰減振動(dòng)的波形,通過它可同時(shí)判斷該繞組的電感值、 因素Q值、圈數(shù)差、匝間短路。在有鐵芯的情況下,還可判斷鐵芯材質(zhì)的差別等。在施加壓脈沖的情況下,還可以通過電暈放電對(duì)緣不良判定??傊?,標(biāo) 志線圈質(zhì)量的各個(gè)要素,可以在短時(shí)間內(nèi)檢查成。
附加電壓 | 500V~5KV zui大0.12焦耳 |
根據(jù)自動(dòng)測(cè)試模式判定的不良 | 斷線,匝間短路,圈數(shù)有誤,短路,電暈放電,閉環(huán),緣不良,接地緣不良 |
測(cè)試時(shí)間(自動(dòng)模式) | zui短約0.3秒 |
壓電源 | 整流穩(wěn)壓電源 (電壓由電腦自動(dòng)控制) |
波形存儲(chǔ) | 根據(jù)內(nèi)電池能保存14種波形 |
處理器 | 6809 8Bit CPU |
A/D變換器 | 變換字長(zhǎng):8Bit 變換速度:50ns |
波形存儲(chǔ)?顯示分辨率 | 512H×256V |
2.
商品名稱:射線儀/射線檢測(cè)儀/射線測(cè)試儀
商品型號(hào):DP-2322

射線儀/射線檢測(cè)儀/射線測(cè)試儀 型號(hào):DP-2322
射線儀【詳細(xì)說明】
射線儀是小的手持式微處理器控制的靈敏度低水平能檢測(cè)Χγαβ射線。直接讀出射線水平。另外,有可調(diào)整的定時(shí)器和外校準(zhǔn)鍵。該劑量?jī)x采用支蓋革-彌勒計(jì)數(shù)管來測(cè)定αβγ及Χ射線輻射,數(shù)字顯示,探頭為內(nèi)置式(INSPECTOR)。
檢測(cè)器:
具有云母窗口的GM管,窗口有效直徑45 mm
Inspector (只有內(nèi)GM管)
在前面板中心有射線標(biāo)記標(biāo)記
Inspector EXP(只有外探頭)
在儀器外具有把手,有與 Inspector 相同的GM 管探頭。
電源:節(jié)9V 堿性電池. 電池壽命 200小時(shí)
射線儀標(biāo):
劑量率: 0.001~100 mR/hr(毫倫/小時(shí))或0.01~1000μSV/ hr(微希伏/小時(shí))
計(jì) 數(shù): 0~300000CPM(每分鐘計(jì)數(shù))或0~5000 CPS(每秒鐘計(jì)數(shù))
計(jì)數(shù)時(shí)間選擇:為了確測(cè)量低計(jì)量的α線和β射線 可選擇1分-24小時(shí),連續(xù)計(jì)數(shù)再除以計(jì)數(shù)時(shí)間變?yōu)镃PM或CPS
度:<±15%
重 量:272g
體 積:150×80×30㎜
應(yīng)用域:
探測(cè)和測(cè)定表面沾污
在操作放射性核素時(shí)監(jiān)測(cè)可能存在的放射性暴露量
調(diào)查環(huán)境污染
測(cè)定惰性氣體及其它低能放射性核素
建筑裝飾材料放射測(cè)定
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