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WQL粒度儀應(yīng)用范圍：
儀器基于固體顆粒的離心沉降和光透射原理測(cè)定顆粒的粒度大小及分布，采用變速測(cè)定方式，使1次測(cè)量的粒度范圍比大于20:1。
儀器基于固體顆粒的離心沉降和光透射原理測(cè)定顆粒的粒度大小及分布，采用變速測(cè)定方式，使1次測(cè)量的粒度范圍比大于20:1。
詳細(xì)介紹
WQL粒度儀應(yīng)用范圍：
儀器基于固體顆粒的離心沉降和光透射原理測(cè)定顆粒的粒度大小及分布，采用變速測(cè)定方式，使1次測(cè)量的粒度范圍比大于20:1。
WQL粒度儀性能指標(biāo)：
轉(zhuǎn)速范圍：600～10000r/min
光信號(hào)穩(wěn)定性：0.2%/30min
可測(cè)粒度范圍：0.01～60μm
測(cè)試準(zhǔn)確度：5％ （使用原上海測(cè)試技術(shù)研究院所提供的二氧化硅標(biāo)樣）
，專(zhuān)業(yè)實(shí)驗(yàn)室儀器生產(chǎn)和代理銷(xiāo)售公司；專(zhuān)業(yè)、客戶滿意是我們*不變的目標(biāo)，完備的售后服務(wù)體系解決您的后顧之憂，歡迎客戶通過(guò)以下方式前來(lái)訂購(gòu)。所有產(chǎn)品均可開(kāi)具17%增票。
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