2022年8月23日至26日，Nanoscope Systems(納茲克股份有限公司)參加在南京舉辦的第29屆非晶和納米晶半導(dǎo)體國(guó)際會(huì)議（ICANS）會(huì)議， ICANS會(huì)議是學(xué)術(shù)研究人員、工業(yè)合作伙伴和政策制定者聚集并分享非晶和納米薄膜或其他納米結(jié)構(gòu)材料最新進(jìn)展的場(chǎng)所。

       自從1965年第一次布拉格會(huì)議開(kāi)始，每?jī)赡昱e辦一次。由于疫情大流行的緣故，故29屆ICANS 推遲到2022年8月23日。

      ICANS@Nanjing是國(guó)內(nèi)的首場(chǎng)盛會(huì)，會(huì)議涵蓋非晶半導(dǎo)體材料體系的基礎(chǔ)物理、建模和表征技術(shù)、硅基、氧化物、有機(jī)、鈣鈦礦和二維薄膜和納米結(jié)構(gòu)；廣泛的薄膜晶體管 (TFT)、太陽(yáng)能電池、傳感器、發(fā)光二極管 (LED) 和存儲(chǔ)器，以及新興的柔性薄膜電子和神經(jīng)形態(tài)應(yīng)用。

       本次展會(huì)納茲克股份有限公司展出的產(chǎn)品有NS3500高速3D激光共聚焦顯微鏡以及便攜式拉曼光譜儀，NS3500 高速3D激光共聚焦顯微鏡是納茲克股份有限公司專門(mén)針對(duì)材料表征、芯片制造、OLED屏幕檢測(cè)所研發(fā)的一款高速3D激光共聚焦顯微鏡。

       展會(huì)上納茲克股份有限公司的技術(shù)工程師與參會(huì)的老師們針對(duì)OLED 顯示，芯片檢測(cè)等方面進(jìn)行了深入的技術(shù)交流，并且在展會(huì)現(xiàn)場(chǎng)對(duì)器件進(jìn)行了現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)展示。

      NS3500 采用405nm 紫羅蘭激光作為光源，Z軸方向采用高精度PZT 并且采用類似于連續(xù)斷層掃描攝影的方式獲得一張張2D的光學(xué)切片，然后再通過(guò)計(jì)算機(jī)上安裝的NSViewer軟件系統(tǒng)重新構(gòu)建出一張3D圖像。高精度的PZT可以實(shí)現(xiàn)Z軸方向最小1nm移動(dòng)精度，因此在太陽(yáng)能電池、晶圓凸塊檢測(cè)、Wafer表面粗糙度、微納顆粒污染物以及芯片表面鍍膜厚度檢測(cè)方面有著廣泛的應(yīng)用。