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上海凱朗儀器設(shè)備廠
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恒溫恒濕試驗箱的可靠性試驗人為的差錯率
2017-10-24 閱讀(661)
恒溫恒濕試驗箱的可靠性試驗人為的差錯率
恒溫恒濕試驗箱作為研究對象。恒溫恒濕試驗箱是用來將芯片放在規(guī)定的溫度及濕度環(huán)境下，看芯片的耐高溫，耐低溫，以及抗?jié)穸刃阅?，由于人為的失誤，難免給分析結(jié)果帶來較大的差錯。因此，需要研究一種更為可靠的數(shù)據(jù)采集方法。恒溫恒濕設(shè)備試驗人為差錯率可分為下列6種：
1、設(shè)計上的差錯，違反工程學(xué)原理的設(shè)計，使得一旦操作失誤就會引起設(shè)備故障；
2、 工藝上的差錯，工藝不符合圖紙和工藝要求；
3、 檢驗上的差錯，把不超過容許誤差的產(chǎn)品當(dāng)作不合格品，或把超過容許誤差的產(chǎn)品當(dāng)作合格品；
4、裝配和維修上的差錯，裝配和維修不符合圖紙和技術(shù)要求：
5、操作上的差錯，操作不合規(guī)定，遺漏了必要的操作步驟或增加了多余的操作步驟，顛倒了操作次序等；
6、處理以上的差錯，在高溫高濕試驗機設(shè)備的運輸?shù)劫A存等處理過程中產(chǎn)生的差錯。即使發(fā)生了以上差錯，系統(tǒng)也不一定馬上發(fā)生故障。但是，這些因素確實是使系統(tǒng)發(fā)生故障的原因。特別是必要的人員、設(shè)備、程序表、技術(shù)數(shù)據(jù)、后勤等要素不齊備，以及有關(guān)使用上的規(guī)定和程序不完備，是設(shè)備故障的主要原因。所以，在可靠性設(shè)計中要采取相應(yīng)的措施，防止人為故障的發(fā)生。特別是人的身體與健康狀態(tài)，受到病理限制、生理限制、體力限制的影響，往往會造成差錯。所以對那些會因操作差錯而發(fā)生非常重大的事故的場合（如飛機駕駛等），必須確立對于有關(guān)操作人員健康狀況的某種標(biāo)準(zhǔn)。
恒溫恒濕試驗箱的溫濕度傳感器，溫度范圍：低溫0℃—70℃，zui低可達(dá)-150℃；高溫150℃。濕度范圍為： 20—98﹪R.H。主要的通訊端口為RS232 串口。于是，可以通過研究分析VC0020 的串口通信協(xié)議。
