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技术文章

探针台分类、特点及适用场景

点击次数:305 发布时间:2025-4-28

探针台根据测试需求、操作方式及环境条件可分为多个类别,其核心特点与适用场景如下:

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一、按?测试样品?分类

1、?晶圆测试探针台?

l ?特点?:支持4寸至12寸晶圆测试,配备高精度移动平台与探针卡,兼容晶圆厂标准化测试流程。

l ?场景?:晶圆厂量产前的缺陷筛?。?/span>CP测试),实验室芯片原型验证。

2、?LED测试探针台?

l ?特点?:集成光学检测模块,可同步测试电学参数(如正向电压)与光学性能(如光强、波长)。

l ?场景?LED芯片光效评估、显示面板背光源质量控制。

3、?功率器件测试探针台?

l ?特点?:支持高压(>1000V)、大电流(>100A)测试,配备耐高温探针与散热系统。

l ?场景?IGBTSiC MOSFET等功率半导体器件的动态特性验证。

4?纳米器件测试探针台?

l ?特点?:纳米级定位精度(±0.1μm),兼容低温(如-196℃)与磁?。ㄈ?/span>0.5T垂直磁?。┗肪场?/span>

l ?场景?:二维材料、量子点器件等前沿材料的电学特性研究。

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探针台分类、特点及适用场景


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二、按?应用环境?分类

1、?/低温环境测试探针台?

l ?特点?:温度范围覆盖-65℃+300℃,支持真空环境测试,避免冷凝干扰。

l ?场景?:汽车电子低温冷启动测试、航天器件高温可靠性验证。

2、?射频(RF)探针台?

l ?特点?:集成RF屏蔽箱与高频探针(40GHz以上),支持S参数、噪声系数等射频指标测试。

l ?场景?5G通信??椤⒑撩撞ɡ状镄酒纳淦敌阅苎橹?。

3?真空探针台?

l ?特点?:全封闭真空腔体设计,消除空气放电干扰,兼容低电流(fA ji)测试。

l ?场景?MEMS传感器、光电探测器的高精度电学参数测量。

三、按?操作方式?分类

1?手动探针台?

l ?特点?:操作灵活,配置显微镜与手动位移台(行程100mm×100mm),成本低。

l ?场景?:实验室小批量样品测试、高??蒲薪萄А?/span>

2、?全自动探针台?

l ?特点?:机械臂自动定位,支持晶圆级批量测试,效率提升30%以上。

l ?场景?:晶圆厂量产测试、高复杂度芯片(如CPU)的快速筛选。

四、按?特殊功能?分类

1、?双面点针探针台?

l ?特点?:支持芯片正反面同步扎针,减少测试误差。

l ?场景?3D封装芯片、TSV(硅通孔)器件的互联性验证。

2、?热探针台?

l ?特点?:内置加热模块,模拟高温工作条件(如+150℃)。

l ?场景?:功率器件热稳定性测试、封装材料热膨胀系数分析。

探针台的多样性设计(如手动型灵活适配科研需求、全自动型满足量产效率)与专业化扩展能力(如RF/真空/高低温??椋?,使其可覆盖?半导体制造、光电器件研发、新能源材料分析?等全产业链测试需求。选型时需综合测试精度、环境兼容性及成本效益,例如纳米器件研发优先选择低温磁场探针台,而量产场景则需全自动机型提升效率。



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