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新型X荧光贵金属检测仪的性能优势
超高分辨率，世界*：
采用世界上好的SDD硅漂移探测器 ，分辨率为139±5ev ，而常规的Si-PIN探测器，分辨率为160±5eV， 能更好的检测铂金中铱和金的含量。
超高度，性能优：
使用25mm 2大面积铍窗探测器，大大提高样品特征X荧光的接收能力。配合数字多道分析器技术，提高分析速度，总体提高系统处理能力，计数率大可达8万，比Si-PIN 6mm2探头提高了5-10倍,精度提高了2-4倍。
超清晰摄像头，定位：
采用新型工业级相机，样品图像更加清晰，轻松实现定位。
小准直器，轻松实现精小部位测试：
提供多种准直器，直径小达0.2mm，可轻松实现精小部位的测试，同时可根据测试需求电动切换准直器，使测量更加轻松更加。
一键式智能式操作，省去选曲线烦恼：
FP法的完整使用，只需一键操作即可智能化自动匹配曲线，操作一步到位。
新型X荧光贵金属检测仪的技术参数
元素分析范围从硫（S）到铀（U）
分析检出限可达ppm级
分析含量一般为ppm到99.99％
任意多个可选择的分析和识别模型
相互独立的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
多次测量重复性可达0.02％（含量96％以上）
工作稳定性为0.05％（含量96％以上）
温度适应范围为15℃至30℃
电源：交流220V±5V,建议配置交流净化稳压电源
能量分辨率：139±5eV
新型X荧光贵金属检测仪的仪器配置
移动样品平台
信噪比增强器
SDD探测器
数字多道分析系统
高低压电源
大功率X光管
计算机及喷墨打印机
外观尺寸： 550×416×333mm
样品腔尺寸：460×298×98mm
质量：45Kg
新型X荧光贵金属检测仪的应用领域
，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测
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