用大功率的X射线照射样品，样品可以被激发出各种元素能量的特征荧光X射线，不同元素的特征能量各不相同，通过半导体探测器分别测量不同元素特征能量的X射线的强度，就可以进行定性分析。而样品受激发后发射的某一元素的特征X射线强度与元素在样品中的含量有关，因此通过建立元素与含量的数学模型后，就能对元素进行定量分析。
目前本产品可用于稻米、小麦、谷物、烟草等作物中的重金元素镉（Cd）、铅（Pb）、汞（Hg）、砷（As）、硒(Se）的快速无损检测，其检出限低可达0.03ppm。其2-3分钟能进行快速筛查，测试小于15分钟对样品的测量，射线防护优于国标《X射线衍射仪和荧光分析仪卫生防护标准GBZ115-2002》，有第三方测试机构出具仪器安全性（辐射计量）测试报告。
应用领域和前景
可应用于粮作物中重金属元素的快速筛选
可应用于粮作物中重金属元素的定量分析
可应用到米粉、米线、面食等品种的重金属元素的检测
可应用到茶叶、中药材、烟叶等其他作物中的重金属元素检测
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