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| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,石油,建材/家具,航空航天 |
是由IIW試塊的基礎(chǔ)上改進(jìn)而來的 主要用途有:1利用R100mm曲面測定斜探頭的入射點(diǎn)和前沿長度;2利用Φ50和1.5mm圓孔測定斜探頭的折射角;3利用試塊直角棱邊測定斜探頭聲束軸線的偏離情況
產(chǎn)品分類品牌分類
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CSK-IB試塊 GS-1、2、3、4試塊承壓設(shè)備無損檢測標(biāo)準(zhǔn)試塊 承壓設(shè)備無損檢測標(biāo)準(zhǔn)試塊 CSK-IA 試塊 CSK-IA超聲波標(biāo)準(zhǔn)試塊 CSK-IA超聲波試塊 溝槽射線探傷對比試塊 ASME非管徑焊縫試塊 NB/T47013-2015標(biāo)準(zhǔn)超聲波試塊 鐵道部標(biāo)準(zhǔn)試塊 石油天然氣管道專用試塊 建筑行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)試塊 電力行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)試塊 其它國家標(biāo)準(zhǔn)試塊 NDT培訓(xùn)考試試塊 超聲波探傷試塊
產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
CSK-IA試塊是由IIW試塊的基礎(chǔ)上改進(jìn)而來的 主要用途有:1利用R100mm曲面測定斜探頭的入射點(diǎn)和前沿長度;2利用Φ50和1.5mm圓孔測定斜探頭的折射角;3利用試塊直角棱邊測定斜探頭聲束軸線的偏離情況;4利用25mm厚度測定探傷儀水平線性、垂直線性和動(dòng)態(tài)范圍;5利用25mm 厚度調(diào)整縱波探測范圍和掃描速度;6利用R50和 R100mm曲面調(diào)節(jié)橫波探測范圍和掃描速度;7利用φ50、φ44和φ40mm 三個(gè)臺(tái)階孔測定斜探頭分辨力。
CSK-IA試塊是由IIW試塊的基礎(chǔ)上改進(jìn)而來的 主要用途有:1利用R100mm曲面測定斜探頭的入射點(diǎn)和前沿長度;2利用Φ50和1.5mm圓孔測定斜探頭的折射角;3利用試塊直角棱邊測定斜探頭聲束軸線的偏離情況;4利用25mm厚度測定探傷儀水平線性、垂直線性和動(dòng)態(tài)范圍;5利用25mm 厚度調(diào)整縱波探測范圍和掃描速度;6利用R50和 R100mm曲面調(diào)節(jié)橫波探測范圍和掃描速度;7利用φ50、φ44和φ40mm 三個(gè)臺(tái)階孔測定斜探頭分辨力。 CSK-IA試塊是由IIW試塊的基礎(chǔ)上改進(jìn)而來的 主要用途有:1利用R100mm曲面測定斜探頭的入射點(diǎn)和前沿長度;2利用Φ50和1.5mm圓孔測定斜探頭的折射角;3利用試塊直角棱邊測定斜探頭聲束軸線的偏離情況;4利用25mm厚度測定探傷儀水平線性、垂直線性和動(dòng)態(tài)范圍;5利用25mm 厚度調(diào)整縱波探測范圍和掃描速度;6利用R50和 R100mm曲面調(diào)節(jié)橫波探測范圍和掃描速度;7利用φ50、φ44和φ40mm 三個(gè)臺(tái)階孔測定斜探頭分辨力。 CSK-IA試塊是由IIW試塊的基礎(chǔ)上改進(jìn)而來的 主要用途有:1利用R100mm曲面測定斜探頭的入射點(diǎn)和前沿長度;2利用Φ50和1.5mm圓孔測定斜探頭的折射角;3利用試塊直角棱邊測定斜探頭聲束軸線的偏離情況;4利用25mm厚度測定探傷儀水平線性、垂直線性和動(dòng)態(tài)范圍;5利用25mm 厚度調(diào)整縱波探測范圍和掃描速度;6利用R50和 R100mm曲面調(diào)節(jié)橫波探測范圍和掃描速度;7利用φ50、φ44和φ40mm 三個(gè)臺(tái)階孔測定斜探頭分辨力。