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當(dāng)前位置：杭州奧科環(huán)境試驗設(shè)備有限公司>>技術(shù)文章>>高低溫試驗箱需滿足的試驗標(biāo)準(zhǔn)
該設(shè)備主要是針對于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫、溫濕度及其循環(huán)變化的環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應(yīng)性試驗。
滿足試驗標(biāo)準(zhǔn)：
GB 10589-2008 《低溫試驗箱技術(shù)條件》
GB 11158-2008 《高溫試驗箱技術(shù)條件》
GB 10592-2008 《高低溫試驗箱技術(shù)條件》
GB2423.1-2008 《電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法》
GB2423.2-2008 《電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法》
GB2423.4-2008 《電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗Db:交變試驗方法》
GB2424.1-2005 《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 高溫低溫試驗導(dǎo)則》
GB2423.22-2008 《電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗N:溫度變化試驗方法》
GB/T5170.2-2008 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗設(shè)備》
GB2423.3－2008試驗C《恒定濕熱試驗方法》;
GB2423.4－93試驗D《交變濕熱試驗方法》
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