是什么改變了物位儀表市場的現(xiàn)狀！

——介可視_3D物位掃描儀改變儀表世界

 1、目前的物位測量儀表
　　目前世界上各種物位測量技術(shù)的原理比較多，包括：激光式、雷達(dá)式、超聲波式、重錘式、射頻導(dǎo)納式、電容式等。以上產(chǎn)品并不是*針對物料測量而設(shè)計的，而且都是基于單點測量原理。在料位測量方面，應(yīng)用效果并不理想，暴漏出諸多問題。因為，物料始終是呈現(xiàn)不規(guī)則表面。所以，測量始終是一個懸而未決的難題。在實際使用中，效果自然就不會理想。

2、目前的工況環(huán)境難題
　　如煤粉倉、石灰石粉倉、水泥倉和干灰倉等生產(chǎn)設(shè)備，無法直接了解倉內(nèi)狀況。通過長期的現(xiàn)場考察與分析，影響料位正確測量的因素有以下幾點：

1．粉末狀粉倉內(nèi)物料顆粒細(xì)小，進(jìn)粉時在倉內(nèi)呈彌漫狀態(tài)，細(xì)小粉塵飄揚(yáng)，粉料堆密度小，有粉與無粉的區(qū)別趨于模糊，嚴(yán)重影響超聲波或其他電磁波法的測量，甚至導(dǎo)致失敗。

2．各種物料的成份、濕度等各不相同，導(dǎo)致其物理性質(zhì)出現(xiàn)差異，尤其是位于不同高度位置的粉料堆密度相差很大，無法用一個統(tǒng)一的物理量去衡量，對連續(xù)測量造成很大影響。

3．倉內(nèi)不規(guī)則的出粉、加粉、塌粉等現(xiàn)象，其產(chǎn)生的機(jī)械力，破壞性相當(dāng)大，同時可以使倉內(nèi)傳感器支架產(chǎn)生彎曲、打折，以至損壞設(shè)備。
 
4．倉壁內(nèi)容易出現(xiàn)掛料現(xiàn)象，并且物料呈現(xiàn)凹凸不平的不規(guī)則表面。很容易出現(xiàn)冒頂現(xiàn)象，無法得出真實物位。由此可見，料位測量是目前上一項難以克服的技術(shù)難題。

【現(xiàn)有的高濃度粉體倉體測量一直都是物位儀表市場上zui難啃的一塊骨頭！】

現(xiàn)有物位測量技術(shù)對比1

現(xiàn)有物位測量技術(shù)對比2
超聲波物位計
優(yōu)點：非接觸　　　　　　局限：粉塵影響/凹凸面影響
非接觸式雷達(dá)料位計
優(yōu)點：非接觸　　　　　　局限：介電常數(shù)有要求/粉塵影響/凹凸面影響
導(dǎo)波雷達(dá)物位計
優(yōu)點：對某個點的測量　　局限：介電常數(shù)有要求/掛料/拉力影響
激光物位計
優(yōu)點：非接觸　　　　　　局限：粉塵影響/凹凸面影響
射頻導(dǎo)納料位計
優(yōu)點：點接觸　　　　　　局限：介電常數(shù)有要求/時漂/溫漂/掛料/拉力
重錘式料位計
優(yōu)點：直接測量手動控制　局限：埋錘/亂繩
r射線式料位計
優(yōu)點：非接觸、穩(wěn)定　　　局限：有污染
稱重式料位計
優(yōu)點：可以測量質(zhì)量體積　局限：抗震問題/物料面狀況不知/價格高

介可視_3D物位掃描儀讓測量讓測量告別缺陷！

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