| 价格区间 | 面议 | 仪器种类 | 飞行时间 |
|---|---|---|---|
| 应用领域 | 化工,电子/电池,电气 |
飞行时间二次离子质谱-材料表征
飞行时间二次离子质谱（11TOF-SIMS)是一种非常灵敏的表面分析技术?？梢怨惴河τ糜谖锢?，化学，微电子，生物，制药，空间分析等工业和研究方面。TOF-SIMS可以提供表面，薄膜，界面以至于三维样品的元素，分子等结构信息。
飞行时间二次离子质谱-材料表征
技术参数：
. 并行探测所有离子，包括有机和无机分子碎片。
. 无限的质量探测范围（实际测量中大于1000m/z 原子量单位）。
. *透过率下实现高的质量分辨率。
. *的横向和纵向空间分辨率（横向小于100纳米，纵向小于1纳米）。
. 探测灵敏度可达ppm或ppb量级。
. 质量探测分辨率(M/ΔM) >1000
. 质量探测准确度 ≥20 milli 质量单位
. 反射性分析器
. 5 分钟样品腔真空度可从大气环境达到真空工作环境
主要特点：
. 超高的表面灵敏度(1x109 atoms/cm2)
· 操作简单(? day training)
· 1 分钟分析，样品处理流程<7分钟
· 导体和绝缘体表面均可测试
· 可得到元素和分子信息
· 从元素中分离出普通有机物
· 正电和负电的 二次离子质谱
· 同位素分析
· 分析面积 ~0.5 mm
· 溅射预清洗表面
· 提供材料数据库
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