X荧光super2400分析仪生产厂家性能特点

特殊光路系统
采用特殊的光路系统，可满足不同基体中痕量元素的测量，提高信噪比，降低检出限。

400W大功率X光源
400W大功率光源使难以激发的痕量元素获得更高的计数率，比普通EDXRF仪器的元素检出限降低一个数量级，更加适合痕量元素的检测。

数字多道技术
采用新数字多道技术，仪器可探测的计数率可高至100kcps,提高了仪器的测量精度,缩短了测量时间。

油冷散热系统
油冷散热系统，保证了大功率X光源的散热，使仪器的运行更加稳定。

光闸系统
光闸系统，保证X光源的稳定性，同时提升X光管使用寿命。

抽真空系统
抽真空系统，可以满足轻元素的测量。

自动进样系统
自动进样系统，可以一次连续检测十二个样品，大大提高了测试人员的工作效率。

X荧光super2400分析仪生产厂家技术指标

元素分析范围从钠（Na）到铀（U）
可进行测试模式之间的转换，提高测试的效率
可对10个样品进行自动切换测试
一次可同时分析多几十种元素
分析检出限可达0.1ppm
分析含量一般为0.1ppm到99.9％
任意多个可选择的分析和识别模型
相互独立的基体效应校正模型
多变量非线性回收程序
温度适应范围为15℃至30℃
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源

标准配置

超锐X光源和样品激发机构
上盖电动开关的大容量样品腔
可自动切换的准直器，滤光片
高清晰CCD摄像头
SDD探测器
数字多道采集处理系统
高低压电源
进口400W端窗光管油冷散热系统，具有自动控温功能
样品自动切换系统
全自动真空系统
专业X荧光分析软件
计算机及喷墨打印机
外观尺寸： 752（W）x759（L）x 988（H）
样品腔尺寸：￠376×50 mm
重量：小于250Kg

应用领域

SUPER XRF 240X荧光分析仪不仅可满足中心实验室和分包实验室的分析需要，而且适用于环境监测、化工、采矿、鉴定、食品、电子、水泥和冶金行业。