膜厚怎么测量？

　　基体表面镀膜或气相沉膜是材料表面工程中的重要技术，膜的厚度直接影响其性能，故需对其进行有效测量。目前常用的膜厚测量方法主要有磁性法、涡流法、超声波测厚法等。其中涡流膜厚测量仪，由于采用了单一涡流法的涡流涂层测厚仪可以实现无损地测量非磁性金属基材上的各种非导电覆盖层的厚度，如油漆，橡胶，塑料，阳极氧化膜等，常应用于测量航空器，船舶，汽车，门窗以及各种铝制品表面的涂层，阳极氧化层还有油漆的厚度。

　　

　　工作原理：

　　物质在被一定波长的X射线照射时，元素将处于激发状态而发射出光子，形成一种特征X荧光射线。每一种元素的能量都是一一对应的，探测器在接收到元素的特征X荧光射线之后，可以通过其中的光子能量进行定性分析，还可通过其中的光子量值进行定量分析。

　　由于各个元素的特征X射线能量恒定，和元素有一一对应的关系，所以我们可以根据所得到的特征X荧光射线能量，对被检物进行定性分析。通过检测到的光子数量，可以对被测物进行定量分析。

　　1、涂覆层成分及厚度分析：对多层精准测试：多层合金、上下元素重复镀层、轻元素和有机物涂镀层及渗层的厚度及成分分析；

　　2、环保检测解决方案：对各种重金属及有害元素进行检测，测试检出限可达1ppm以下；

　　3、全元素成分分析：可对各种合金、矿石、土壤、珠宝首饰等等进行元素成分分析。