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產(chǎn)品型號SZT-1 -
品 牌其他品牌
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地上海市
更新時間:2024-07-31 14:32:06瀏覽次數(shù):2670次
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數(shù)字式四探針測試儀|SZT-1|
是運用四探針測量原理 的多用途綜合測量裝置。它可以測量片狀、快狀半導體材料徑向和軸向電阻率,測量片狀半導體材料的電阻率和擴散層的薄層電阻(方塊電阻),換上特制的四探針測試夾,還可以對金屬導體的低中值電阻進行測量。此外,探針經(jīng)過特殊加工后,還可以測量薄膜材料電阻率。廣泛適用于半導體材料、器件廠、高等院?;瘜W物理系、科研單位,對半導體材料的電阻性能測試。 數(shù)字式四探針測試儀|SZT-1| |
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