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米青科儀器-米青科，上海米青科WYL-4應(yīng)力雙折射儀
閱讀：547 發(fā)布時(shí)間：2013-12-24
儀器簡介：
透明物體由于不均勻冷卻或其他如受機(jī)械作用等原因，其內(nèi)部會(huì)產(chǎn)生內(nèi)應(yīng)力，引起雙折射，晶體物質(zhì)本身具有雙折射的光學(xué)特征。WYL-4應(yīng)力雙折射儀采用偏振光電矢量合成及光學(xué)補(bǔ)償原理，通過對(duì)樣品的光程差的定量測定，確定樣品應(yīng)力雙折射的大小。本儀器能測定光學(xué)波片的光程差、確定光學(xué)玻璃的應(yīng)力級(jí)別，是光學(xué)儀器制造業(yè)*的儀器，也是研究晶體礦物質(zhì)的重要工具，廣泛應(yīng)用在國防、建材、地質(zhì)礦產(chǎn)、材料科學(xué)方面，是各大專院校特別理想的教學(xué)實(shí)驗(yàn)設(shè)備。
儀器特點(diǎn):
l直讀納米級(jí)光程差，無須計(jì)算。
l雙分視場零位檢測，靈敏度高。
l樣品工作臺(tái)45度自動(dòng)定位。
l體積小巧，結(jié)構(gòu)緊揍。
l操作方便，可靠實(shí)。
技術(shù)指標(biāo)：
l單色光波長：589.44nm
l光程差測定范圍：（0～590）nm
l分度盤分度值：5 nm
l零位誤差：±2nm
l測量重復(fù)性：1nm
l被測試樣尺寸：寬度≤440mm，高度≤240 mm，長度不限