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西克用光谱测量！OC Sharp纳米级激光距离传感器上市

纳米级光谱共焦法位移传感器 OC Sharp 上市了！

OC Sharp属于短距离激光测距（也叫位移传感器）产品，其测量基于“光谱分析”原理，是和原OD系列采用的“三角测量法”原理*不同的技术。SICK提供“光谱共焦”和“光谱干涉”2种测量原理的测量头，精度可以达到纳米（10^-9米）级（即分子水平），是目前zui高精度的非接触式测量传感器之一。全新“光谱分析”技术保证可以适应任何颜色的被测物，其测量头是纯机械结构的光学部件，不含电子元器件，杜绝电磁干扰和高温影响。同时，它使用的是白色直射可见光，适应弧面和深孔等测量应用。

基于以上优异的产品特性，OC Sharp十分适用于电子和太阳能行业中半导体硅片表面晶相测量，制药行业中试管内药物液位高精度测量，玻璃行业中玻璃高精度测厚，以及包装等行业中薄膜测厚。