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電工電子產(chǎn)品低溫試驗方法
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北京普桑達儀器科技有限公司
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電工電子產(chǎn)品低溫試驗方法
本標(biāo)準(zhǔn)于用來考核或確定電工、電子產(chǎn)品在低溫環(huán)境條件下貯存和（或）使用的適應(yīng)性，而不能用來評價試驗樣品在溫度變化期間的耐抗性和工作能力，這時應(yīng)當(dāng)采用GB2423.22《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗N：溫度變化試驗方法》。
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗A:低溫試驗方法。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于非散熱和散熱的電工電子產(chǎn)品(包括元件、設(shè)備及其他產(chǎn)品)的低溫試驗。