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当前位置：南京大卫仪器设备有限公司>>电子天平/衡器>>梅特勒 托利多天平>> XP-系列分析天平
产品名称：XP-系列分析天平
品牌：METTLER TOLEDO
产品特点：
♦高对比度的彩色触摸屏，红外感应器，网格秤盘，水平控制系统，8个用户界面全金属机架，外形美观，使用方便。
♦采用高精度高分辨率后置式传感器，满足用户高精度的称量要求
♦天平校准功能，自动提示用户使用外置砝码校准/校准天平，确保称量的结果始终准确
♦*可拆卸，可清洗的玻璃防风罩设计，持久保持洁净
♦优化天平适应性的称量参数设置，满足不同称量环境要求
♦丰富的内置称量应用程序：基础称量、统计功能、配方称量、计件称量、百分比称量、密度测量、差重称量。
技术参数：
| 型号 | zui大称量值（g） | 可读性（mg） | 重复性sd（mg） | 线性误差（mg） | 典型稳定时间（s） | 秤盘尺寸（W*D） mm |
| XP105DR | 31 / 120 | 0.01 /0.1 | 0.015 / 0.06 | 0.15 | 1.5 | 78×73 |
| XP205 | 220 | 0.01 | 0.03 | 0.1 | 2.5 | 78×73 |
| XP205DR | 81 /220 | 0.01 /0.1 | 0.015 / 0.06 | 0.15 | 1.5 | 78×73 |
| XP204 | 220 | 0.1 | 0.07 | 0.2 | 1.5 | 78×73 |
| XP504 | 520 | 0.1 | 0.12 | 0.4 | 1.5 | 78×73 |
| XP504DR | 101 /520 | 0.1 / 1 | 0.1 / 0.6 | 0.5 | 1.5 | 78×73 |
DR =变量程 sd=标准偏差
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