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當前位置：上海納騰儀器有限公司>>產(chǎn)品展示>>輪廓儀>>光學輪廓儀
從產(chǎn)品研發(fā)到質量控制，該系統(tǒng)可以用于從超光滑鏡面到粗糙面的各種樣品進行表面微觀測量分析和粗糙度質量評價。白光干涉原理。
Profilm 3D是一款兼具垂直掃描干涉 (VSI)和高精確度相移干涉 (PSI) 技術的經(jīng)濟三維光學輪廓儀，其可以用于多種用途的高精度表面測量。我司有此機器...
非接觸式優(yōu)點就是測量裝置探測部分不與被測表面的直接接觸，保護了測量裝置，同時避免了與測量裝置直接接觸引入的測量誤差。Zeta-20三維光學輪廓儀集成了六種光學計...
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