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分析微控電子萬能試驗(yàn)機(jī)幾種常見誤差產(chǎn)生原因
閱讀：1100 發(fā)布時(shí)間：2020-12-26
微控電子萬能試驗(yàn)機(jī)主要用于金屬、非金屬材料之拉伸、壓縮、彎曲等力學(xué)性能試驗(yàn)，增加剪切附具可做剪切試驗(yàn)。本機(jī)配有計(jì)算機(jī)、打印機(jī)、電子引伸計(jì)、光電編碼器及通用試驗(yàn)軟件，試驗(yàn)機(jī)可以準(zhǔn)確測定金屬材料的抗拉強(qiáng)度、屈服強(qiáng)度、規(guī)定非比例延伸強(qiáng)度、延伸率、彈性模量等力學(xué)性能。試驗(yàn)結(jié)果可以查詢和打?。?位移，力-變形，應(yīng)力-位移，應(yīng)力-變形，力-時(shí)間，變形-時(shí)間）六種曲線及相關(guān)試驗(yàn)數(shù)據(jù)，具有軟件自檢功能，能自診斷故障，詳見軟件說明。是工礦企業(yè)、科研單位、大專院校、工程質(zhì)量監(jiān)督站等部門的理想檢測設(shè)備。
分析微控電子萬能試驗(yàn)機(jī)幾種常見誤差產(chǎn)生原因：
1.微控電子萬能試驗(yàn)機(jī)隨機(jī)誤差：即在相同的條件下，對同一參數(shù)重復(fù)進(jìn)行多次測量，所得到的測定值也不可能*相同。
產(chǎn)生原因：
在試驗(yàn)過程中，試驗(yàn)機(jī)內(nèi)摩擦力的變化；環(huán)境濕度等的變化。
微控電子萬能試驗(yàn)機(jī)控制系統(tǒng)就是控制試驗(yàn)機(jī)運(yùn)作的系統(tǒng)，人們通過電腦操作可以控制試驗(yàn)機(jī)的運(yùn)作，通過電腦顯示屏可以獲知試驗(yàn)機(jī)的狀態(tài)及各項(xiàng)試驗(yàn)參數(shù)，也可以由電腦實(shí)現(xiàn)各項(xiàng)功能并進(jìn)行數(shù)據(jù)處理分析、試驗(yàn)結(jié)果打印。試驗(yàn)機(jī)同電腦之間的通信一般都多功能USB接口傳送信號的方式，它通過計(jì)算機(jī)背后的串口(COM口)進(jìn)行通信，此技術(shù)比較成熟、可靠，使用方便，電腦軟件用來采集和處理分析數(shù)據(jù)。進(jìn)入試驗(yàn)界面后，電腦會不斷采集各樣試驗(yàn)數(shù)據(jù)，實(shí)時(shí)畫出試驗(yàn)曲線自動打印出各試驗(yàn)結(jié)果參數(shù)及曲線報(bào)告等等數(shù)據(jù)。
2.過失誤差：由于試驗(yàn)工作中的錯(cuò)誤，疏忽大意等原因引起的誤差。這種誤差是沒有規(guī)律的，需要反復(fù)核對方可避免。
產(chǎn)生原因：電子電子萬能試驗(yàn)機(jī)操作錯(cuò)誤，試驗(yàn)人員看錯(cuò)了數(shù)字，記錄時(shí)寫錯(cuò)了小數(shù)點(diǎn)位置。
3.電子萬能試驗(yàn)機(jī)系統(tǒng)誤差：保持一定數(shù)值或者一定規(guī)律變化的誤差。系統(tǒng)誤差是有規(guī)律的，這種規(guī)律體現(xiàn)在每一次具體的試驗(yàn)中，找到這種規(guī)律，就可以加以修正。
產(chǎn)生原因：
電阻應(yīng)變儀測量應(yīng)變時(shí)，儀器面板上的系數(shù)的誤差。
電子萬能試驗(yàn)機(jī)示值不準(zhǔn)，所測得的力值總是偏大或偏小。