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产品简介
详细介绍
T1.T2.T3试块，亦称对比试块
T1试块
对比试块应采用与被检测工件材质相同或声学特性相近的材料，并采用相同的焊接工艺制成。其母材、熔合面和堆焊层中均不得有或等于Φ2mm平底孔当量直径的缺陷存在。试块堆焊层表面的形态和工作堆焊层的表面形态相同。
从堆焊层侧进行检测采用T1型试块，母材厚度T至少应为堆焊层厚度的2倍。
T2试块
从母材侧进行检测采用T2型试块，母材厚度T与被测基板的厚度差不得超过10%。如果工件厚度比较大，T2试块的长度L应能满足检测要求。
T3试块
用于双晶直探头、单晶直探头凌密度的校准。
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直径2mm孔特殊位置试块CW-1-6-45°
标准试块CW-2-D-61°