SDmatic - 损伤淀粉仪

产品概述

KPM-Chopin SDmatic是一款简单而精确的仪器，用于测量面粉中受损的淀粉，用于制粉和烘焙行业。它是一个全自动的无酶分析仪，只需一克面粉，在10分钟内就能对淀粉损伤进行可靠的测量。它的基础是 安培法(Medcalf & Gilles)。

应用

了解面粉的烘焙能力

SDmatic测量面粉中淀粉的损伤程度。 这提供了关于面粉烘焙能力的信息：受损的淀粉使吸水能力成倍增加，这影响到面团的粘性，并导致更高的糖分产生，这影响到最终产品的体积和颜色。

每种产品都有一个最佳的破损淀粉含量。

粉师和面包师可以测量面粉中受损淀粉的水平，以便：

• 确保研磨过程的优化和设置（轧辊、平行度、磨损）。

• 根据客户的规格生产面粉。

• 确保面粉具有最佳和稳定的质量。

• 优化和控制加工过程（水合率、混合、醒发和烹饪），确保成品的质量（体积、颜色和保质期）。

• Define the optimal hydration rate to obtain a maximal yield while avoiding the risks of sticky dough

• Optimize the addition of additives in the flour (α-amylase, for example) to maximize volume and color, while limiting the risks of collapse and too much red coloring

工作方式

用于粉师和面包师的简单而精确的仪器

安培法是基于Medcalf & Gilles (1966)提出的理论，证明面粉的碘吸收能力与它的淀粉损伤成正比。

碘是用一个特殊的探针通过电化学产生的。释放出的碘会导致产生电流，用一对电极进行测量。特殊探头和电极在SDmatic测量探头中重新组合（见下文）。在整个测试过程中，SDmatic搅拌器对溶液进行搅拌。

通过SDmatic加热电阻将溶液加热到35 °C/95 F°。

当面粉经震荡落入反应杯时，破损的淀粉会吸收碘，测量的电流会下降：下降的幅度越大，破损淀粉含量就越大。

测量周期

电流的变化与碘的变化相关。被测量的是电流。

阶段0：测量周期的启动

第1阶段：加热电阻使溶液达到正确的温度（35℃）。

第2和第3阶段：探针以电化学方式产生碘，与引入的面粉质量成正比。

第四阶段：稳定期测量所产生的确切电流（即碘）（最大值（lm））。

第5阶段：在稳定期结束时，引入面粉并固定碘；电流随着碘的吸收而减少。

第六阶段：在加入面粉180秒后，探头测量剩余电流（Ir）的值。 下降幅度越大，受损的淀粉含量就越大。

结果

在测试结束时，结果显示在屏幕上

• 淀粉损伤的程度用Ai%（碘吸收）表示

• 然后将其转化为UCD和UCDc（校正值考虑了水分和蛋白质的水平）。

• 包括其他单位的预测方程，酶法（AACC 76-31.01，Farrand）。

• AACC 76-31.01, Farrand is already installed in the Software

• You may decide to replace them with other measurements: AACC 76-30.02, etc.

为了显示UCDc结果，有必要在测试开始时将水分和蛋白质作为重要参数录入到软件中。

水分与蛋白质的数据可以用EM10标准专用烘箱和/或近红外分析仪（如SpectraStar）来确定。

系统组成

SDmatic配有一个测量探头、一个搅拌器、一个加热电阻、两个反应杯、两个样品勺和一个清洁容器。它配备了一个LCD触摸屏和一支触摸笔，以及一个用于装溶液的塑料瓶及加热器，一个塑料瓶滴瓶（用于添加试剂）。它还包括探针清洁组件。

SDmatic - 损伤淀粉仪

技术规格