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植物冠層分析儀的應(yīng)用
植物冠層圖像分析儀可測量：葉面積指數(shù)、葉片平均傾角、散射輻射透過率、不同太陽高度角下的直射輻射透過率、不同太陽高度角下的消光系數(shù)、葉面積密度的方位分布、冠層內(nèi)外的光合有效輻射(PAR)等。
植物冠層分析儀采用*的創(chuàng)新技術(shù)，在冠層下方沿著橫斷面測定植物冠層吸收的光合有效輻射分量，然后將之轉(zhuǎn)換為林隙比例分布，從而計算出葉面積指數(shù)等其它參數(shù)。可廣泛應(yīng)用于農(nóng)業(yè)生產(chǎn)和農(nóng)業(yè)科研，為進行冠層光能資源調(diào)查，測量植物冠層中光線的攔截，研究作物的生長發(fā)育、產(chǎn)量品質(zhì)與光能利用間的關(guān)系。
植物冠層分析儀的應(yīng)用范圍：
1.植物生長調(diào)節(jié)劑的評估
2.客觀有效地對各種葉片病害的評級
3.監(jiān)測應(yīng)用除草劑的效果
4.用于土壤改善和肥力的研究
5.葉面施肥的研究
6.灌溉日程安排的研究
7.干旱對植物生長和產(chǎn)量的影響
8.不同基因型的特性
9.試驗地變異的評估