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2合 1 系統(tǒng) — 用于目視和化學(xué)分析

目視和化學(xué)材料檢驗(yàn)二合一，節(jié)省90%的時間。DM6M LIBS解決方案的集成激光光譜功能可提供在顯微鏡圖像中所觀察到的化學(xué)指紋圖譜。利用所有顯微鏡功能，通過化學(xué)分析檢查樣品和鑒定材料。

1秒即可獲得化學(xué)指紋圖譜

運(yùn)用成熟的LIBS（激光誘導(dǎo)擊穿光譜）技術(shù)進(jìn)行即時元素分析，可在數(shù)秒內(nèi)獲得轟擊點(diǎn)的化學(xué)信息。

將工作流程精簡至只有一個步驟，以結(jié)果為重點(diǎn)！

0— 無需樣品制備

找到感興趣的位置，隨后只需單擊一下，即可觸發(fā)LIBS分析。

所見即所測！

無需制備和傳輸樣品

 無需系統(tǒng)調(diào)節(jié)

 無需重新定位感興趣區(qū)域。

案例研究：
Gerweck GmbH Oberflaechentechnik公司
（德國Bretten-Goelshausen）

鋁/硅（Al/Si）表面鹽侵的圖像（580 x 440微米）和LIBS光譜，可使用DM6 M LIBS解決方案獲得。 鹽光譜（紅色）與純鋁參考光譜（綠色）對比。 由Gerweck GmbH提供。

轉(zhuǎn)而使用徠卡顯微系統(tǒng)公司DM6M LIBS二合一解決方案的公司可以獲得眾多優(yōu)勢，Gerweck公司就是一個很好的例子。光學(xué)顯微成像和激光誘導(dǎo)擊穿光譜技術(shù)（LIBS）二合一的材料分析解決方案，除了可以同時實(shí)現(xiàn)圖像觀察和元素分析外，也可以用于深度剖面分析。Gerweck提供各種材料的電子元件的表面加工和鍍膜，包括金（Au），銀（Ag），銅（Cu）和鎳（Ni）。

該公司經(jīng)常收到客戶提出的因質(zhì)量問題要求索賠證明的請求，因此需要進(jìn)行根本原因分析，其中包括將原材料與退回部件之間的比較。常見的問題根本原因是原材料受到污染，例如鹽或潤滑劑殘留物引起的污染，或者表面缺陷。進(jìn)行光學(xué)檢查后，Gerweck需要在微觀尺度下確定斑點(diǎn)的材料成分，從而對部件進(jìn)行失效分析。對于汽車行業(yè)客戶，應(yīng)在10天內(nèi)出具8D報告，其中包括根本原因分析和建議采取的應(yīng)對措施。

在采用DM6M LIBS解決方案之前，Gerweck將樣本寄給一家外部實(shí)驗(yàn)室，他們使用掃描電子顯微成像和能量色散譜（SEM/EDS）技術(shù)進(jìn)行高級分析。這種外包方式增加了成本和樣本處理時間。有時還需要其它外部實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行其他檢測。該公司決定尋找一種不需要高級用戶培訓(xùn)和樣本制備，也不需要外部樣本處理/分析的材料分析技術(shù)，從而全面節(jié)省時間和成本。新技術(shù)的最終目標(biāo)是能夠輕松進(jìn)行外觀檢驗(yàn)，表面形貌評估和定性分析。

Gerweck開始使用DM6M LIBS二合一解決方案后，獲得檢驗(yàn)結(jié)果的速度顯著加快，例如工作周轉(zhuǎn)時間縮短至不到一天，節(jié)省出的時間可以用來進(jìn)行其他檢驗(yàn)。這一優(yōu)勢意味著可以輕松地如期完成8D報告。另一項(xiàng)優(yōu)勢是降低分析成本。質(zhì)量相關(guān)問題顯著減少， 并能在生產(chǎn)早期就識別到可能造成缺陷的根本原因，同樣節(jié)省了成本。最終結(jié)果是索賠數(shù)量減少。

DM6M LIBS

Hans-Ullrich Eckert 工藝技術(shù)開發(fā)經(jīng)理 GERWECK GMBH Oberfl?chentechnikBretten-G?lshausen（德國）：

“作為一家積極發(fā)展中的中型企業(yè)，我們認(rèn)為拓展內(nèi)部分析方法是很必要的。 我們決定采用DM6M LIBS材料分析解決方案是因?yàn)樗婢叨喙δ芎鸵子眯浴?nbsp;我們的目標(biāo)是能夠輕松通過光學(xué)進(jìn)行外觀檢驗(yàn)，表面形貌評估和定性分析。我們使用該儀器已超過一年，可以說它*符合我們的期望。 設(shè)備功能多，分析時間短，使這項(xiàng)投資的效益十分顯著。我們確實(shí)非常滿意。"