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EX-3600,EX-6600,EX76-實(shí)驗(yàn)室EDXRF光譜儀
- 發(fā)布日期：
- 有效日期：
- 所 在 地：
- 產(chǎn) 地：
- 已獲點(diǎn)擊：
- 2024年11月21日
- 2025年5月21日
- 上海上海市
- 美國
- 236次
【產(chǎn)品簡介】
硅漂移探測器（SDD），高計(jì)數(shù)率，高分辨率，同時適合高原子序數(shù)元素和低原子序數(shù)元素的分析。
可選：SDD LE薄聚合物視窗優(yōu)化輕元素分析。
高達(dá)400W的光管，結(jié)合了的WAG（廣角結(jié)構(gòu)）技術(shù)，創(chuàng)造出了任何實(shí)驗(yàn)室都想要的功能強(qiáng)大的儀器。
【詳細(xì)說明】
實(shí)驗(yàn)室EDXRF光譜儀
帶有二次靶的EX-3600/EX-6600/X-7600實(shí)驗(yàn)室EDXRF光譜儀
- 無損元素分析范圍從C(6) - Fm(100)，濃度含量分析范圍從次ppm—*
- 硅漂移探測器（SDD），高計(jì)數(shù)率，高分辨率，同時適合高原子序數(shù)元素和低原子序數(shù)元素的分析。
- 可選：SDD LE薄聚合物視窗優(yōu)化輕元素分析。
- 高達(dá)400W的光管，結(jié)合了的WAG（廣角結(jié)構(gòu)）技術(shù)，創(chuàng)造出了任何實(shí)驗(yàn)室都想要的功能強(qiáng)大的儀器。
- 8個定制的濾波器和8個二次靶有助于快速、準(zhǔn)確地測定微量及痕量元素。
- 專業(yè)的nEXt＆#8482;軟件包，易于操作。
Ø 輕元素*化
Ø 硅漂移探測器
Ø 定性和定量元素分析
Ø 快速無損檢測分析方法
Ø 微量及痕量元素分析
實(shí)驗(yàn)室光譜儀
Xenemetrix實(shí)驗(yàn)室能量分散X射線熒光（EDXRF）光譜儀為元素分析應(yīng)用提供*無損解決方案。
硅漂移探測器(SDD)，其超低的電子噪音和超高計(jì)數(shù)率，與Si-Pin探測器相比，有更高的能量分辨率及更快地檢測速度。
EX-6600&X-7600模型中的8個二次靶和EX-3600中的一個二次靶能快速、精確定量分析樣品，即使是復(fù)雜的樣品，如合金、塑料盒地質(zhì)樣品。定制的靶材以次ppm的檢出限。
這個多功能的實(shí)驗(yàn)室光譜儀可以分析液體、固體、泥漿、粉末、顆粒和空氣過濾器，其樣品倉可以容納不同形狀，不同尺寸的樣品。
10-位自動進(jìn)樣器的便于樣品的自動加載，節(jié)省人力。
這個快速、精確、易于使用的光譜儀有堅(jiān)固的硬件和強(qiáng)大的分析軟件，以達(dá)到zui低檢出限。
多道采集分辨率為探測器反映提供更*的峰值/原始值比。
主要應(yīng)用
- 采礦
- 金屬冶煉
- 環(huán)境保護(hù)
- 石油化工
- 放射性物質(zhì)研究
- 學(xué)術(shù)研究
- 合金分析
- 貴金屬檢測
- 法鑒
二次靶激發(fā)
綠色的光譜說明Ni 合金中含有99.8%的Ni和少量雜質(zhì)的Cr,Mn和Fe。用直接激發(fā)的方式，這些元素被Ni 元素的信號吸收掉了。采用Ni作為二次靶（紅色光 譜），Ni 并沒有那么明顯，但是Fe,Mn,Cr的激發(fā)效率就大大提高，如圖中這些元素的峰值響應(yīng)所示。
