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應用報告：X-Strata920提供鉻鍍層分析
日立分析儀器X-Strata920是一款基于高分辨率硅漂移探測器（SDD）的高性能、緊湊、堅固和可靠的質(zhì)量控制分析設備，提供簡單、快速的鍍層厚度和成分分析，符合檢測方法ISO 3497和ASTM B568。
X-Strata920使用能量色散X射線熒光 (EDXRF) 的無損分析技術(shù)來產(chǎn)生樣品的X射線光譜。該元素X射線光譜通過提供的基本參數(shù)法（FP）或經(jīng)驗系數(shù)法軟件來進行鍍層厚度或成分分析。X-Strata920配有一系列不同的樣品艙和底座來滿足不同形狀和尺寸的樣品。
所有樣品艙配置都是開槽式，便于快速加載扁平或薄的樣品，例如線路板和電線。激光聚焦確保可重復的樣品放置，以獲得所有操作員的一致結(jié)果。可選的程控樣品臺使自動測量多樣品或單個樣品上的多個特征變得容易，還可以執(zhí)行掃描以獲取凹凸表面的代表性分析。準直器可選配，以確保適用各種尺寸配件，提供佳性能。