X射线荧光光谱仪 产品性能
迅速测定ppm级的有害金属!
应对WEEE & RoHS、ELV等有害物质相关法规。
应对ASTM F963,EU_EN71美国和欧盟的玩具法规和指令,保证产品和用料的绿色环保。
X射线荧光光谱仪 基本参数
测定原理 X射线荧光分析法
测定方法 能量色散型
测定对象 固体、液体、粉状
测定范围 13Ai~92U
产品特点
EDX-720配备自动开关式大型样品室,可放入zui大300mmφ×150mmH的样品。
标准配备从薄膜分析到有机分析的定量分析软件。
标准配备无需标准样品的含量匹配软件。
标准配备实现高灵敏度分析的5种滤光片??商岣呗龋–l)、镉(Cd)等的检测灵敏度。
结构紧凑的台式机,主机尺寸为W580×D650×H420mm。
样品图像观察采用CCD装置,便于观察样品位置。特别有助于确认微小部分的分析位置。