产品详情

设备简介

KC3110功率半导体高精度静态特性测试系统(实验室)，基于全新三代半SiC, GaN器件和模块以及车规级?？榈男滦艘蠖械囊淮胃弑曜疾房ⅰ１鞠低晨梢栽?KV和1000/2000A的条件下实现精确测量和参数分析，漏电流测试分辨率高达fA，电压测试分阱率最高可这nV级，以及3000V高压下的寄生电容的精密测量。全自动程控软件，图型化上位机操作界面。内置开关切换矩阵保证测试效率。?？榛峁股杓圃ち羯独┱骨蹦堋２馐越涌诳赏夤腋骼嗉芯吆褪逝淦?，还能够通过专用接口连接各种Handler：如分选机、机械手、探针台、编带机等。

适用产品

可测Si, SiC, GaN材料的IGBTs, DIODEs, LED, MOSFETs, BJTs, HEMTs, 电容，光耦，

参考标准

IEC 60747-8/9 半导体分立器件第8/9部分/JEDEC标准

设备特点

KC-3110功率半导体高精度静态特性测试系统(实验室)包 含 ： 硬 件 平 台 + 实 时 软 件 ， 可 测 试 静态特性、IV 曲线、容阻测试（Rg、Cxss）、CV 曲线；，主要特点如下:

适用于功率器件、功率模块直流特性分析，最高可达3000V/1000A在高达3000V直流偏置下，全自动化的电容（ Ciss、 Coss、Crss等）测量；

高效率：内置开关矩阵，自动切换测量单元，提高生产测试效率；

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在线高低温箱:选装-50℃~﹢150℃(最高 200℃)专用高精度实时在线高低温箱，支持 48 工位和 98 工位。圆形旋转盘，温度均匀性优秀选配温控模块也可与第三方温箱实现联动控制。

具备数据管理功能，上位机可实现数据曲线、报告及自动保存；

IV曲线：2K点以内的 IV 曲线实时扫描；

CV曲线：栅电阻 Rg、反向传输电容 Cres、输入电容 Cies、输出电容 Coes、CV 曲线。

软件界面

软件功能完备并高可扩展性，基于LINUX平台开发，稳定高效、配备工控机。 保存与记录试验数据。

数据管理功能完整，具有操作界面与上位机，可实现数据自动保存与生成测试报告。

技术参数