實用型德國OPTRIS高精度短波紅外熱像儀

實用型德國OPTRIS高精度短波紅外熱像儀

Optris PI 1M是一款短波紅外熱像儀，擅長對挑戰(zhàn)性物體進行非接觸熱成像，能夠準確測量熱金屬、鋼材、陶瓷和半導體的表面溫度。Optris PI 1M熱成像儀特別適用于金屬加工應用中的溫度測量。在1微米的短波測量波長下，其發(fā)射率明顯高于傳統(tǒng)紅外長波范圍內(nèi)的測量值。熱像儀的快速傳感器電子設備使其反應時間短至1毫秒，這在可視化熱過程的同時實現(xiàn)了精確測量。該熱像儀通過USB接口和模擬及數(shù)字過程接口，實現(xiàn)了與控制系統(tǒng)和制造過程的無縫集成。

• 高動態(tài)CMOS探測器，分辨率高達764 x 480像素

• 1微米光譜靈敏度

• 寬測量范圍，從450°C到1800°C，無需子范圍

• 高達1 kHz幀速率，適用于快速過程

• 模擬和數(shù)字輸出，響應時間為1毫秒

• 具有線掃描功能

Optris PI 1M 是一款短波紅外熱像儀，融合了創(chuàng)新、經(jīng)濟實惠和高精度，特別擅長非接觸式熱成像測量。該熱像儀在短波紅外范圍內(nèi)運行（1M：0.85 – 1.1μm），專為捕捉精確的表面溫度數(shù)據(jù)而設計，適用于熱鋼、鐵、黃銅、銅、錫、碳、陶瓷和半導體等材料。它以廣泛的高溫測量范圍、精確度和可定制的視場配置，滿足了各行業(yè)的嚴格需求。

許多非光亮材料的測量對象在長波光譜范圍內(nèi)表現(xiàn)出高且相對恒定的發(fā)射率，而金屬和光亮材料在長波紅外波長下通常具有低發(fā)射率，導致測量結(jié)果不穩(wěn)定且不可靠。Optris PI 1M 專為金屬基增材制造應用而設計，并且可以選配濾波片，使其非常適合幾乎所有的激光加工應用。

PI 1M 紅外熱像儀的光譜范圍與大多數(shù)金屬材料的最高發(fā)射率一致，簡化了遠程溫度測量。根據(jù)普朗克輻射定律，短波范圍內(nèi)發(fā)射的紅外輻射顯著增多，從而減少了線性發(fā)射率問題對溫度測量重復性的影響。這增強了使用 PI 1M 紅外熱像儀時金屬材料溫度測量的可靠性和準確性。因此，對于高溫下光亮材料的非接觸溫度測量，建議盡可能使用短波紅外熱像儀，因為它們具有更廣的溫度測量范圍，更適合光亮表面。PI 1M 紅外熱像儀在德國精心設計和制造，以滿足苛刻工業(yè)應用的需求，其精度、準確性和重復性都優(yōu)于長波紅外熱像儀，是高性能溫度測量。

PI 1M 紅外熱像儀不僅提供高分辨率的熱成像能力，還能在廣泛的溫度范圍內(nèi)（450°C 至 1800°C）捕捉溫度數(shù)據(jù)而無需分段測量。其出色的距離到斑點尺寸比，即使在較遠的距離拍攝圖像時也能確保準確的溫度測量。這些技術規(guī)格使其在各種工業(yè)環(huán)境中進行精確溫度分析的強大工具，提供寶貴的洞察力并促進明智的決策。

紅外熱像儀提供多種幀率和子圖像選項，以適應不同的應用需求。在 764 x 480 像素分辨率下，它以 32 Hz 的幀率運行，確保詳細成像。切換到 382 x 288 像素時，幀率提高到 80 Hz，適合清晰捕捉快速移動的物體。對于快速應用（如監(jiān)控溫度變化），它可以在 72 x 56 像素分辨率下以 1 kHz 的幀率運行。

此外，熱像儀支持 764 x 8 像素的寬子圖像模式，在 1 kHz 的幀率下，特別適合于線掃描應用。這種多功能性使其能夠精確監(jiān)控連續(xù)線上的溫度，非常適合各種工業(yè)和研究應用。

紅外熱像儀通過 USB 接口無縫連接到計算機。此外，Optris PI 1M 通過 PIX Connect 軟件許可證提供高級軟件功能，如線掃描和圖像合并。這款軟件包對那些希望將經(jīng)濟實惠的紅外熱像儀與強大的熱圖像處理和溫度數(shù)據(jù)收集平臺相結(jié)合的研究人員和工藝工程師來說是無價的。開發(fā)工具包也可供集成商開發(fā)特定應用的軟件解決方案。

此外，PI 1M 紅外熱像儀兼容多種專為嚴苛環(huán)境設計的配件。這些配件包括延長熱像儀操作溫度范圍至 315°C 的水冷外殼。此外，還提供空氣凈化裝置以保持鏡頭清潔，確保即使在灰塵環(huán)境中也能連續(xù)進行溫度測量。

配合這些功能的還有機械安裝配件、電氣接口和連接電纜，提供全面且具有吸引力價格的兼容配件組合。這種兼容性增強了 PI 1M 的多功能性和適應性，使其能夠輕松地集成到各種設置和應用中。