OPTM-A3 日本Otsuka大塚薄膜厚度檢測儀 OPTM series
參考價 | ¥ 2000 |
訂貨量 | ≥1件 |
- 公司名稱 藤田(重慶)精密儀器設備有限公司
- 品牌 OTSUKA/日本大塚
- 型號 OPTM-A3
- 產(chǎn)地 日本
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時間 2025/4/10 10:05:50
- 訪問次數(shù) 83
聯(lián)系方式:王梓初15803007556 查看聯(lián)系方式
聯(lián)系我們時請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!
產(chǎn)地類別 | 進口 | 應用領域 | 綜合 |
---|
可攜帶至現(xiàn)場的手持式
日本Otsuka大塚薄膜厚度檢測儀 OPTM series
● 可測量0.1μm單位
● 具有形狀的樣品也可非破壞的測量
● 不論基材材質(zhì)、可測量其鍍膜
日本Otsuka大塚薄膜厚度檢測儀 OPTM series
與桌上型光學膜厚儀相比,Smart膜厚儀在“現(xiàn)場”以非破壞式直接量測樣品,且可以量測特殊形狀樣品。
與接觸式膜厚儀相比,Smart膜厚儀不僅不會破壞您的樣品,也不會因用戶不同而產(chǎn)生誤差且遠高于接觸式膜厚的量測精度。
與渦電流/電磁式膜厚儀相比,Smart膜厚儀不需要制作檢量線,且可以量測非金屬基材并且得到絕對值!
非接觸式載臺
對于濕膜或半導體晶圓等不想接觸的樣品,可以通過自由設定探頭位置進行非接觸測量。
產(chǎn)品開發(fā)-量測試作品
1.攜帶到合作廠商等,直接在現(xiàn)場量測效率Up
2.試作階段的檢查方法商定效率Up
規(guī)格樣式
量測原理 | 反射分光法(光干涉法)、非破壞性量測 |
膜厚量測范圍 | 1~50μm(顯示上限60μm) |
重復精度 | 2.1σ 0.01μm(SiO2膜1μm) |
量測時間 | 1秒內(nèi) |
量測層數(shù) | 1層 |
數(shù)據(jù)輸出 | 附屬操作屏幕顯示或以USB輸出Excel檔案 |
量測Spot | Φ1mm以下 |
重量 | 約1.1kg |
選配
筆型探頭
能夠測量狹窄區(qū)域或形狀的樣品。 探頭端Φ6mm。
膜厚測量范圍 | 1μm~50μm |
測量重復性 | 0.01μm |
測量時間 | 1秒以下 |