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化工仪器网>产品展厅>物理特性分析仪器>测厚仪>在线测厚仪> 日本Otsuka大塚GP series分光配光测量系统

日本Otsuka大塚GP series分光配光测量系统

具体成交价以合同协议为准
  • 公司名称 成都藤田科技有限公司
  • 品牌 OTSUKA/日本大塚
  • 型号
  • 产地
  • 厂商性质 代理商
  • 更新时间 2025/2/22 11:26:45
  • 访问次数 288

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联系我们时请说明是化工仪器网上看到的信息,谢谢!


公司简介

COMPANY INTRODUCTION

成都藤田科技有限公司经营进出口业务7年有余,位于西南地区四川成都;通过不断努力、进步与各类日本、部分欧美品牌建立长期稳定的合作关系,覆盖电子产品、工具、电子元器件、仪器仪表、防静电设备、辅料、自动化设备、非危险性化工产品、机械设备及配件、通信设备。

成都藤田科技供货渠道

因为长期良好的经营环境,获得国内外客户与商社的喜爱,随着互联网的发展建立了专有的网络模式MRO;

坚持以服务客户为主的经营理念、追求客户满意服务为宗旨、礼貌诚信为原则提供客户服务,并以成为客户值得信赖的工业品综合服务商为目标。

MRO两种形式

  1. 超市建立工业品专柜,大型超市也会经营部分工业品,但种类和数量有限。

  2. 网上工业品超市,这种形式配送可为客户大规模找寻产品,使供应商和采购商都实现“进入一个点,得到一大片”连锁效应,有效降低采购商采购成本。

代理品牌:


代理品牌:

半自动 全自动定制设备。

Epson爱普生(机器人/机械臂)

ATTEN安泰信(焊接产品)

日本日本三键ThreeBond(胶水)

日本ESTIC艾斯迪克(拧紧工具)

日本MUSASHI武藏(点胶机)

日本HOYA豪雅(UV固化灯,玻璃镜片)

日本SIGMAKOKI西格玛(光学元件、物镜等)

日本YUMEX优美科思(各种疝气灯)

日本TOKISANGYO东机产业(粘度计)

日本KANOMAX加野(风速仪)

日本YAMADA雅玛达(隔膜泵)

日本EPSON爱普生(机械臂)

日本TSUBOSAN壶三(锉刀工具)

韩国DIT东日技研(除静电产品)

韩国HANIL韩一(搅拌机)

优势品牌:

日本Otsuka大塚电子(晶圆、覆膜测厚仪)

日本分光JASCO(光谱仪、光度计、色谱仪)

日本FLUORO福乐(用于晶圆的搬运)

日本MITUTOYO三丰(测量器具)

日本AND艾安得(微量电子分析天平)

英国Meech密其(非接触式除尘系统)

日本SSD西西蒂(防静电设备)

日本NEW-COSMOS 新宇宙(气体检测仪)

YIZOMO一子沫(拉拔机)

日本FURUPLA富如拉(喷壶)

日本PISCO匹士克(气动元件)

美国MEISEI(热剥线钳)

日本TECHNO特古罗(锡炉)

日本AMANO安满能(除尘设备)

日本MALCOM马康(粘度计)

日本HOZAN宝山(镊子、钳子等工具)

美国SIMCO思美高(防静电、除尘产品);



成都藤田科技为广大客户提供一体化、全面、优质高效服务。





Epson爱普生机器人,安泰信焊锡设备(半自动/全自动),视觉成像,武藏点胶机

产地类别 进口 价格区间 面议
应用领域 综合

日本Otsuka大塚GP series分光配光测量系统-成都藤田科技提供日本Otsuka大塚GP series分光配光测量系统

产品信息

特殊长度

● 支持长达 2400 毫米的 LED 照明灯具的光分布测量

● 还支持有机EL和大型显示器的光分布测量

● 可以自动控制2轴测角仪测量每个角度的光谱分布,并通过球带系数法获得总光谱通量、总光通量、色度、色温等。

● 采用新型检测器,可进行宽动态范围测量与 IESNA LM-75 兼容

● GP-2000 兼容 Type B 和 Type C

● 支持紫外和近红外区域的配光测量

● 可提供发光强度标准灯泡(JCSS)

 

评价项目

发光强度角分布(配光)

光谱辐射通量(光谱)

饱和度坐标 (u', v') [JIS Z8781-5]

饱和度坐标 (x, y) [JIS Z 8724]

显色指数(Ra、R1 至 R15)[JIS Z 8726]

相关色温和 Duv [JIS Z 8725]

主波长(Dominant)和刺激纯度(Purity)[JIS Z8781-3]

IES(符合 LM63-2002 和 JIS Z8105-5)文件 

* 1 IES分析软件[大冢电子制造]也可以读取和分析其他公司的光分布测量设备计算出的IES文件。


规格

规格
模型GP-500 *1GP-1100 *1GP-2000
光学系统*22轴测角仪

θφ坐标系

θφ坐标系αβ坐标系/θφ坐标系
光路长度500 毫米或更小500-1500mm1500 毫米或更多
对应样品LED芯片通用照明一般照明,包括直管灯

???/p>

探测器多通道光谱仪
测量波长范围 *3220nm-2500nm
评价项目光强度的角度分布(光分布)
光谱辐射通量(spectrum)
色度坐标(u',v')[JIS Z8781-5]
色度坐标(x,y)[JIS Z 8724]
·主要波长(Dominant)和刺激纯度(Purity)[JIS Z8781-3]
·相关色温和Duv[JIS Z 8725]
·色彩性能评价数(Ra,R1至R15)[JIS Z 8726]
·IES(LM63-2002)和 JIS Z 8105-5 兼容)

* 1 可以进行光谱辐射的光分布测量 * 2 兼容IESNA LM-75 * 3 可以选择检测器的波长范围
* 4 IES 分析软件[大冢电子制造] 由另一家公司的光分布测量设备计算。IES 文件可以阅读和分析


配光测量方法中的坐标系类型(JIS C 8105-5)

坐标系
类型
相对于极轴的倾斜角
以极轴为旋转中心的倾斜角
IESNA LM-75 符号

(垂直角)

(水平角)

角标

角度范围角标角度范围
αβ坐标系α-90°≤α≤90°β-180°≤β<180°B型
θφ坐标系θ0°≤θ≤180°θ0°≤φ<360°C型

日本Otsuka大塚GP series分光配光测量系统


设备配置


 日本Otsuka大塚GP series分光配光测量系统日本Otsuka大塚GP series分光配光测量系统


核心特点


  1. 超大基板全覆盖:专为下一代尺寸玻璃基板设计(支持超长/超宽规格),可高效测量LCD、TFT、有机EL等大型面板,兼容PI、ITO、SiN、介电层等复杂膜层结构。


  2. 纳米级精度与秒级速度:采用分光干涉+AI算法技术,单点测量时间<1秒,膜厚精度±0.1nm,光学常数(n/k)解析<0.5%,满足量产级质量控制需求。


  3. 全场景适配性:从研发实验室到自动化产线,支持在线(inline)集成,可定制XYZ多轴平台,实现基板全域厚度分布映射与缺陷快速筛查。


  4. 高速量产优化:每小时可检测超3000点,支持多探头并行测量,大幅提升玻璃基板(如G8/G10)产线效率,降低设备综合成本(CoO)。


  5. 超薄与超厚膜通吃:量程覆盖1nm至200μm,适用于OC(光学胶)、Resist(光刻胶)等软膜与硬质涂层的精准厚度控制。


  6. 低维护:非接触式测量设计,无探针损耗,长期使用稳定性达99.8%,搭配远程诊断功能,减少?;缦?。

日本Otsuka大塚GP series分光配光测量系统-成都藤田科技提供






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