X射线金属镀层测厚仪XRF-2020膜厚测量仪Micropioneer

X射线金属镀层测厚仪XRF-2020膜厚测量仪

可测

单镀层,双多镀层,多镀层及合金镀层

镀银测量范围0.1-50um

镀镍测量范围0.5-30um

镀铜测量范围0.5-30um

镀锡测量范围0.5-50um

镀金测量范围0.02-6um

镀锌测量范围1-30um

锌镍合金测量范围1-25um

镀铬测量范围0.5-25um

仪器全自动台面,自动雷射对焦,多点自动测量

多个准直器可选择：0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03×0.5mm

可配多个或单个准直器,准直器大小可自动切换

韩国先锋XRF-2020L型H型

MicropXRF-2000,XRF-2020

韩国微先锋XRF测厚仪

X-RAY电镀膜厚测量仪

功能

特点:

全自动台面，自动雷射对焦，多点自动测量

仪器全系均为全自动台，自动雷射对焦！

多点自动测量

XRF-2020微先锋膜厚仪Micropioneer

可配多个或单个准直器,准直器大小可自动切换

快速无损测量

电镀层厚度，可测单镀层，双镀层，多层镀层及合金镀层