玉崎科学 日本 SANKO三高电磁式涡流膜厚计 

玉崎科学 日本 SANKO三高电磁式涡流膜厚计 

具有探头兼容性、内存、统计计算、数据传输等功能的高性能型。

*专用探头单独出售。 （该探头与 SWT-9000 系列或更早版本不兼容。）

特征

可根据测量目的选择连接探头。

液晶显示屏上显示引导操作流程。

大容量测量值存储器（NEO II：20,000点，NEO III：40,000点）。

通过注册校准曲线轻松调用测量

内置上下限设置及统计计算功能。

数据可以通过USB连接传输到计算机。

内置低功率无线输出（NEO-III）。

倾斜支架

目的

喷漆/衬里/电镀

防蚀铝等绝缘膜

规格

测量范围

取决于连接探头（单独出售）

显示方式

图形液晶显示器

校准曲线校准

2点校准

校准曲线记忆

NEO-Ⅱ：10个

NEO-Ⅲ：100个

测量值记忆

NEO-Ⅱ：20,000点

NEO-Ⅲ：40,000点

数据传输

USB、低功率无线电 (NEO-III)

电源

AA 碱性电池 (1.5V) x 2 连续使用时间（25 小时*） 带自动断电功能的

AC 适配器 *最大值（可能因使用条件而异）

工作温度

0～40℃（无凝结）

尺寸

72(宽)×30(高)×156(深)毫米

重量

约200g（含电池）

配件

电池、便携硬盒、手带绳、保修卡/用户登记表、

使用说明书（包含在驱动程序 CD 中）、AC 适配器、USB 传输线、驱动程序 CD

探测

请根据测量的母材来选择。

选项

探头，

用于黑色金属基材（SFe）

，用于有色金属基材（SNFe）

，用于黑色金属基材，用于有色金属基材（SFN-325）

专用打印机单元（SWT-NEOⅢ）